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自動テストとデバッギング
データドリブン世界が求める性能に対応するために、高速デジタル規格が急速に進化しています。次世代のシリアル規格とデータ通信要件によりテストの新たな課題が発生し、より高度なコンプライアンス／デバッグ・ツールが求められています。テクトロニクスは、設計から、シミュレーション、解析、デバッグ、コンプラインス・テストまで、性能の最適化、検証サイクルの短縮、市場投入までの期間短縮のために、高度な自動測定ソリューションをご用意しています。次世代のシリアル規格とデータ通信要件によりテストの新たな課題が発生し、より高度なコンプライアンス／デバッグ・ツールが求められています。テクトロニクスは、設計から、シミュレーション、解析、デバッグ、コンプラインス・テストまで、性能の最適化、検証サイクルの短縮、市場投入までの期間短縮のために、自動電気テスト・ソリューションをご用意しています。
高性能コンピューティング規格の正確で再現性のあるテスト
データ・センタ、人工知能（AI）、高性能コンピューティングなどのデータ集約型市場では、データ・スループットの向上やメモリ容量の増加の需要が高まり続けています。データ転送速度が高速化すると、シグナル・インテグリティの限界を超えるような設計が必要になるため、コンプライアンス、デバッグ、検証にもより高性能な測定ツールが求められます。テクトロニクスの自動テスト・ソリューションは、これらの課題に正確にかつ再現性をもって対処することで、エンジニアが最新の設計をテストできるようにします。
家電製品技術のテスト時間を短縮
イノベーションのペースは、より新しくより高速な家電製品やデバイスの需要を促しています。これらの開発の基礎となっている規格は、データ・レートの増加や設計の複雑化という点で、テストに新たな課題をもたらしています。テクトロニクスのテスト・ソリューションは、正確で再現性のある測定を実現し、テスト時間を短縮して最新の仕様への適合性を確保します。
Ethernetデバイス設計のための統合ツール
Ethernetは、ハイパースケール・データ・センタやエンタープライズ・システム、そして自動車用や産業用アプリケーションなどにおいて、ネットワーク接続を実現します。テクトロニクスは、これらのエコシステムにおいてIEEE 802.3 Ethernetデバイスの物理レイヤのテスト、開発、およびデバッギングを行うための、統合ツール・セットを提供しています。
高度な測定および解析ツール
テクトロニクスのSDLA、PAMJET、およびDPOJETソフトウェアは、高速シリアル規格に対応する強力な信号解析ツールを提供します。PAMJETを使用した最新のPAM4信号の解析、SDLAを使用した波形のディエンベッド、DPOJETを使用したジッタ／ノイズ解析など、テクトロニクスは必要なツールをご用意しています。
