ジッタ測定／タイミング解析

今日のシリアル・データ規格では徹底したジッタ・コンプライアンス・テストが要求されるため、タイミング・ジッタについて熟知していなければ、高速通信システムの設計は不可能です。テクトロニクスは豊富なテスト機器を取り揃えており、お客様が短時間で設計目標やコンプライアンス要件を満たせるようにお手伝いいたします。

リアルタイム・オシロスコープ用DPOJETジッタ／タイミング解析： DPOJETにより、コンピュータ、モバイル機器、およびデータ通信システム設計におけるタイミング、ジッタ、およびノイズのデバッグと特性評価が可能になります。

TekScope Anywhere ^TM 波形解析ソフトウェア ：ラボの外でもタイミング／アイ／ジッタが解析でき、その情報をネットワーク環境内のチーム・メンバー間で容易に共有できます。

サンプリング・オシロスコープ用80SJNBジッタ／タイミング／SDLA Visualizer解析ソフトウェア： 80SJNBは、ディエンベッド・フィルタ、時間ドメインの波形、またはチャンネル・エンベッド用Sパラメータを指定できるエンジニア向け汎用ツールです。また、80SJNBは、タイミング、ノイズ、およびマスク・テスト解析からアイ・ダイアグラムの三次元表示が可能であり、50GHz以上の信号の詳細で正確な検証が可能になります。

BERTScope BSAシリーズ用JMAPジッタ・マッピング／分離解析 ：従来のBERTと異なり、BERTScopeはユニークなJMAP解析を使用して、ジッタをランダム成分とデターミニスティック成分に分解し、長いパターン上でエラーをより詳細に調査することができます。

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Clock Recovery Primer, Part 1 Figure 1. If clock and data were to move in time by the same amount at the same time, a decision circuit could remove the effect of jitter …
Evaluating Stress Components using BER-Based Jitter Measurements Figure 1.1. Self-verification stress setup - connections to a BERTScope S or BERTScope with option SE (left). Stress user interface (right) showing the …
Stressed Eye Primer Figure 1. Conceptual picture of an ideal receiver. Figure 2. Simplified Receiver Block Diagram …
Clock Recovery Primer, Part 2 Abstract Clock recovery is a common part of many measurements, whether as part of the test setup or part of the device under test. We’re going to look at clock recovery from a …
Understanding and Characterizing Timing Jitter Primer Timing jitter is the unwelcome companion of all electrical systems that use voltage transitions to represent timing information. Historically, electrical systems have lessened the ill effects of …
Dual-Dirac+ Scope Histograms and BERTScan Measurements Figure 1.1. Using an eye diagram to set a window around the crossing point and plot edge positions. Abstract Much has been written …
The Basics of Serial Data Compliance and Validation Measurements Serial Buses - An Established Design Standard High-speed serial bus architectures are the new norm in today's high-performance designs. While parallel bus standards are undergoing some …
DesignCon 2015 Paper - Statistical Principles and Trends in Mask Testing Abstract In recent years mask testing added hit ratios, margins and auto-fit. In parallel, jitter and noise analysis produced statistical models identifying categories of impairments …
80SJNBのジッタ測定結果の相関関係 80SJNBは、当社8000シリーズ・サンプリング・オシロスコーブ・フラットフォームにおいて、ジッタ、ノイズ、およびビット・エラー・レート（ BER）を解析するアプリケーション・ソフトウェアです、 80SJNBは、ジッタおよびノイズをその主要成分に細かく分離できるので、デバッグ診断回報のようなコンプライアンス・テストの結果算出 …
ジッタ解析パラメータ測定において、適切な許容誤差やテスト・マージンを確保するためには、既知の確度が必要になります。ジッタ測定も例外ではありません。当社は、ジッタ測定において確度を規定し、代表値を明示しています。確度とジッタ測定は、機器のタイミング安定度、サンプリング・ノイズ、機器の振幅ノイズ・フロア、信号の補間誤差など、いくつかの大きな要因によって影響を受けます。
Paper presented 8/9/05 at the T11.2 FC-MSQS Ad Hoc Meeting: Impact of Noise on BER Estimation Impact of Noise on BER estimation BERT can perform a BER measurement at a set vertical threshold at a given timing (within the UI). By varying the timing of the BERT (within …
Jitter Fact Sheet Jitter degrades system performance and eludes troubleshooting efforts just when you can't afford the time to track it down. Dealing with jitter is now a mandatory part of any high-speed …
ジッタ測定に最適なプラットフォームの選択シリアル・デバイスで発生するジッタは、設計エンジニアや開発者にとって大きな問題となっています。ジッタは、システム性能に影響を与えるため無視できない問題です。一方、ジッタの検出・評価は容易ではありません。PCI ExpressやFibre Channelなどの標準規格に準拠するためにもジッタ許容値をクリアする必要があります。専門家の間では …
BERTScope® Bit Error Rate Testers Jitter Map “Under the Hood” Abstract Jitter Map is a capability on the BERTScope that uses BER measurements tomeasure Total Jitter as well as decompose jitter beyond basic Random and Deterministic Jitter. This …
Six Sigma’ Mask Testing with a BERTScope® Bit Error Rate Tester Introduction Mask testing is a common method of estimating whether a transmitted waveform is of sufficient quality to meet system requirements. In most systems the requirement is to …
BER等高線入門－アイ・ダイアグラムとBER このアプリケーション・ノートでは、BER等高線測定の概要について説明します。具体的には、BER等高線とは何か、どのように構成され、ギガビット・スピードでのパラメータ性能に有効な観測方法である理由について説明します。さらに、BERTScopeビット・エラー・レート・テスタiによるBER等高線の例についても説明します。
Clock Recovery’s Impact on Test and Measurement Introduction Clock recovery plays a significant role in making accurate test measurements, whether incorporated into the test setup or as part of the device under test. As most …
82A04型フェーズ・リファレンス・モジュールとTDS8200型／CSA8200型サンプリング・オシロスコープによる超低ジッタ特性当社では新製品のＣＳＡ８２００型サンプリング・オシロスコープをベースに、８２ＡＯ４型フェーズ・リファレンス・モジュールを組合わせ、ジッタ・フロアが200fSRMs未満という極めて低い測定を可能にしました。また同時に、高いアクイジション・レート、優れた信号忠実度、そして柔軟性の高い動作モードを実現しています。 …
Characterizing Phase Locked Loops Using Tektronix Real-Time Spectrum Analyzers Introduction The Phase Locked Loop has become one of the most versatile building blocks in electronics. They are at the heart of circuits and systems ranging from clock recovery blocks …
Comparing Jitter Using a BERTScope® Bit Error Rate Testing Introduction In most systems, it is desirable to have each data bit have the same duration (see Figures 1(a) and 2(d)). When bits vary in length, either randomly or systematically …
リアルタイム・オシロスコープを使用したPLL の特性評価 PLL (Phase-Locked Loop) は通信のアプリケーションでよく使用されます。PLL は、デジタル・データ信号からのクロック・リカバリ（CDR）、衛星伝送信号からのキャリア再生、周波数と位相の変調と復調、および高精度受信機の周波数シンセサイザなどで使用されます。PLL の特性には、帯域、ノイズ、アクイジション・レンジ、速度、ダイナミック・レンジ、安定性、および精度があります …
ジッタ・トレランス・テストとジッタ伝達特性テストのためのコントロールジッタの生成高速シリアル通信システムを設計する場合、常にジッタが問顕になります。日常の作業でジッタの特性評価を行っていると、意図的なジッタまたは制御可能なジッタを持ったクロック・ソースまたはデータ・ソースが必要になることがあります。目的に応じて信頼性があり、再現可能な結果を得るためには、このようなジッタ・ソースの細部まで十分な注意を払うことが重要です …
アイ・パターン（アイ・ダイアグラム）測定方法アイ・パターン（アイ・ダイアグラム）の構造分析このアプリケーション・ノートは、アイ・パターン（アイ・ダイアグラム）とは何か、その構造、アイ・ダイアグラム生成のための一般的なトリガ方法について説明します。また、アイ・ダイアグラムをスライスすることで得られるさまざまな情報についても説明します。さらに、トランスミッタ、チャンネル、レシーバ・テストの基本的な方法についても説明します …
ジッタ(jitter)とは？意味と測定タイミング・ジッタの分析と評価タイミング・ジッタ（または単に「ジッタ」）は、電圧の遷移でタイミング情報を表すあらゆる電気システムにとって付き物の好ましくない現象です。従来、電気システムに比較的遅い信号レートを採用して、タイミング・ジッタの悪影響を軽減していました。その結果、ジッタに誘発されるエラーは、そのエラーにより破損されるタイム・インターバルと比較すると小さなものでした。今日 …

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Jitter Fundamentals View this recorded webinar to get a solid overview of jitter components as well as jitter characterization and visualization. Learn how to control Jitter during system design and improve timing …
How to Address Your Toughest Serial Bus Design Challenges with EDA and Measurement Correlation This Tektronix webinar will teach engineers how to use modeling tools to correlate simulations with high-speed physical layer measurements on Serial Bus Standards using the DPO/MSO70000 Series …
Enabling PAM4 for Emerging Requirements in Data Communications This webinar presents measurement techniques for PAM4 Data Communications and is useful for engineers involved in designing and developing 28G, 56G or 100G components, modules and systems. Find out …
Choosing the Right Platform for Jitter Measurements
Advanced Jitter and Noise Analysis As serial data speeds increase, the need to perform accurate timing and jitter measurements is key to staying current in your design role. Check out this new webinar that covers advances in the …