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電磁干渉(EMI)と電磁環境両立性(EMC)

EMI/EMC測定(プリコンプライアンス・テスト)の重要性

50%のプロジェクトでは、初回のEMC試験 で不合格になるという事実をご存じでしょうか。 Intertek Testing Servicesの報告によると、製品のおよそ半分が最初のEMC試験に失敗しています。その原因として、EMC原則適用の失敗、EMC に関する知識の欠如、EMC規制の誤った適用、回路エレメント間の予期しない相互作用、または非準拠モジュールまたはサブアセンブリが最終製品に組み込まれることが挙げられています

EMI/EMCプリコンプライアンス・テストを実行することにより、EMIコンプライアンス・テストに1回で合格できる可能性が高くなり、時間や数十万円の費用を節約することができます。 医療、自動車、防衛、さらにはマルチメディア・アプリケーション用の製品を設計している企業は、プリコンプライアンス・テスト・セットアップに投資することで利益を得ることができます。 このページでは、プリコンプライアンス・テストを製品開発プロセスに追加することで、製品開発を加速し、プロジェクト・コストを削減する方法について説明します。

EMI/EMCプリコンプライアンス・テストの利点

製品開発に携わっている場合、製品を市場に出すためにコスト、時間、時には感情的な情熱という投資が必要になります。コンプライアンス・テストの不合格はぜひとも避けたいものです。プリコンプライアンス・ソリューションを作業プロセスに組み込むことには、以下のような数多くの利点があります。

  • 製品化までの時間の遅延や開発コストの増加の原因となるEMI/EMCの潜在的な問題を早期に特定できる
  • EMI/EMC関連のコストを削減できる
  • 認証ラボに持ち込む前に製品の信頼性を向上させる
  • 設計変更の影響に関するフィードバックを即時に行う
  • スケジュールに合わせて柔軟にテストを行うことが可能

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設計の初期段階で導入した場合、優れたEMC設計手法の実装はそれほど難しくありません。 EMC要件を満たすために設計の後半で変更を加える必要がある場合は、非常に難しくなります。

EMI/EMCプリコンプライアンス・テストのセットアップ

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テクトロニクスのRSA500シリーズUSBスペクトラム・アナライザを使用した、代表的な放射テストのセットアップ

EMI/EMCプリコンプライアンス・テストは簡単で、時間もかかりません。顧客からのフィードバックに基づいて、テクトロニクスは、使いやすさと機能性を念頭に置いた、放射、伝導のプリコンプライアンス・テストが行える次世代ソフトウェアを開発しました。

EMI/EMCプリコンプライアンス・テストのセットアップは、SignalVu-PCから始まります。EMCVuと呼ばれる追加オプションを使用することで、この最新版のSignalVu-PCをご利用いただけるようになります。EMCVuには、使いやすい設定ウィザード、内蔵された規格、押しボタンによる選択機能を備えたアクセサリ設定機能が備わっています。オープンエア・テスト・サイト(OATS)をセットアップする場合でも、研究室でテストしている場合でも、EMCVuは周囲の雑音を取込んで除去するため、無響室を使用せずにプリコンプライアンス・テストの精度を高めます。

EMCVuとリアルタイム・スペクトラム・アナライザおよびアクセサリを使用して、放射、伝導エミッションのプリコンプライアンス・テストを実行する方法の詳細については、こちらのアプリケーション・ノート をご覧ください

30日間の無償試用版でEMCVuをお試しになりたい方は、以下のボタンをクリックしてください。

30日間の試用版のダウンロード

EMI/EMC測定のトラブルシューティング

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製品の最終認証テストに時間と費用を投資する前に、デバイスを認証ラボに送る準備ができていることを確認する必要があります。問題が発生したときは、問題にすばやくフォーカスし、原因を特定し、コストのかかる遅延を発生させずに修復する手順のための適切なツールが必要です。

効率的にデバッグするには、問題をすばやく特定し、間欠的な干渉を捕捉するソリューションが必要になります。 これは、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせによって実現されます。

ソフトウェア・ソリューションで探す必要がある機能の一部は次のとおりです。

  • 対象となる周波数で障害のない状態およびゼロインをバイパスするためのQP(疑似ピーク)検波。
  • 特定の高調波のみをテストし、近接界プローブでそれらのエミッションがボード上のどこで発生しているかを探すための高調波チェック。
  • 既知の周波数の高調波でエミッションを検出することを可能にする高調波マーカ。
  • 被測定デバイス(DUT)と周囲の雑音、デバイスの以前の反復などを比較するための複数トレースの表示機能。
  • 障害が間欠的か再発しているかを判断するための、自動または手動によるマルチ障害の再測定。
  • 同じユーザが設定可能なレポートによる、複数の形式による複数の測定。

ハードウェアについては、リアルタイム・スペクトラム・アナライザを使用することによりEMIデバッグがより簡単になります。リアルタイム・スペクトラム・アナライザが提供する利点の一部は次のとおりです。

  • トランジェント信号、間欠的な信号を取込む機能。
  • 同じ周波数で複数のソースをデバッグする機能。
  • 即時フィードバック - 従来の掃引スペクトラム・アナライザは掃引に時間がかかり、重要な信号を取込めない可能性があります。

リアルタイム・スペクトラム・アナライザを使用した放射プリコンプライアンス・テストの詳細については、当社のブログをご覧ください。トラブルシューティング技術に関する詳細は、以下のボタンをクリックしてダウンロード可能な「EMIのトラブルシューティングの実例」アプリケーション・ノートに記載されています。

アプリケーション・ノートのダウンロード

EMI/EMCプリコンプライアンス・テストと規格

テクトロニクスのEMCVuプリコンプライアンス・ソフトウェアは、CISPR、FCC、MIL-STDなど、多くのEMC規格をサポートしています。テストを自動化するために、EMCVuには内蔵の規格が備わっているので、製品とその販売地域に適した規格を選択することができます。EMCVuでは、周波数範囲の設定やライン・テーブルの制限など、含まれていない機能を持つ規格を設定することもできます。

サポートされる規格の簡単な要約を以下に示します。

マーケット・セグメント 機器の種類 規格
IEC/CISPR CENELEC/EN FCC MIL-STD DEF-STAN
ISM医療 産業、科学、医療機器 CISPR 11 EN 55011 CFR Title 47 Part 18    
医療用の電気機器 EN 60601-1-2
自動車 自動車、船舶、内燃エンジン CISPR 12 EN 55012 CFR Title 47 Part 15(*)    
車載用のコンポーネントおよびモジュール CISPR 25 EN 55025      
マルチメディア サウンドおよびTV放送レシーバ CISPR 13 EN 55013 CFR Title 47 Part 15    
情報技術と通信機器(ITE) CISPR 22 (EN55032に置き換え) EN 55022 (EN55032に置き換え)
プロ・オーディオ/ビデオ/マルチメディア機器 CISPR 32 (CISPR 13および22に置き換え) EN 55032
電化製品 電気デバイス、家庭用電化製品およびツール CISPR 14-1 EN 55014-1 CFR Title 47 Part 15    
照明 蛍光灯および照明 CISPR 15 EN 55015 CFR Title 47 Part 15    
防衛 防衛機器とシステム       MIL-STD-461G DEF-STAN 59-411

EMI/EMCプリコンプライアンス・テスト・ソリューション

テクトロニクスは、お求めやすい価格のソフトウェア、スペクトラム・アナライザ、アクセサリ、プローブなどのEMI/EMCプリコンプライアンス・テスト・ソリューションを提供しています。

ソフトウェア

SignalVu-PCとEMCVuソフトウェアがあれば、テクトロニクスのEMI/EMCプリコンプライアンス・ソリューションをすぐにご利用いただけます。 SignalVu-PCのプラグインとして、EMCVuはすべてのプリコンプライアンスのニーズに対応するシングル・ユーザ・インタフェースを提供します。

スペクトラム・アナライザ

テクトロニクスは、高速かつ正確な測定を提供してEMI/EMCの問題を迅速に検出する、お求めやすい価格の幅広いリアルタイム・スペクトラム・アナライザのラインアップを提供しています。リアルタイム・スペクトラム・アナライザは、まれに発生するEMIバーストを取込むという、従来の掃引タイプに比べて大きな利点があります。


EMI/EMCテスト・シートのダウンロード

EMI/EMC測定に関するよくある質問

EMC測定とは?

EMCとは電磁両立性のことで、他の電子機器やEMIの発生源がある環境において、それらの機器に影響を与えることなく、意図したとおりに動作する機器の能力のことです。その電磁両立性を計測することを、EMC測定と呼びます。

EMI測定とは?

EMIとは電磁干渉(エミッション)のことで、電磁エネルギーが電子機器の動作を妨害することによって発生します。その電磁干渉を計測することを、EMI測定と呼びます。

EMI/EMC測定の方法は?

EMI/EMC測定は、テクトロニクスの製品やソリューション で低コストかつ正確に行うことができます。