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使用 4200A-SCS 參數分析儀進行 MOSFET 閘級電荷量測


簡介

功率 MOSFET 用於多種應用,並可作為高速開關使用。裝置的開關速度受內部電容影響,內部電容通常在產品規格表中以 Ciss 和 Coss 指定,其從輸入閘級和汲極電容 Cgs 和 Cgd 得出。除了指定電容以外,閘級電荷 (Qgs 和 Qgd) 也可用於評估 MOSFET 的開關效能。

JEDEC JESD24-2 標準「閘級電荷測試方法」中說明了一種測量 MOSFET 閘級電荷的方法。透過此方法可強制施加閘級電流,同時將閘級至源極電壓測量為時間的函數。從產生的閘級電壓波形中,可得出閘級-源極電荷 (Qgs)、閘級-汲極電荷 (Qgd) 和閘級電荷 (Qg)。

4200A-SCS 參數分析儀支援使用兩部電源量測設備 (SMU) 儀器和系統中包含的閘級電荷測量測試來進行 MOSFET 閘級電荷測量。該測試是 4200A-SCS Clarius+ 軟體套件中提供的廣泛測試庫中所包含的眾多測試之一。本應用摘要說明如何使用 4200A-SCS 參數分析儀根據 JEDEC 閘級電荷測試方法測量 MOSFET 閘級電荷。

MOSFET 閘級電荷測量概觀

在閘級電荷方法中,將固定測試電流 (Ig) 強制流入 MOS 的閘級,便會根據流入閘級的電荷繪製電晶體與測得的閘級源極電壓 (Vgs)。會向汲極端子供應固定電壓偏壓。圖 1 顯示了功率 MOSFET 的閘級電壓相對於閘級電荷。

閘級電荷 (Q) 強制閘級電流與時間 (Igdt) 得出。如圖 1 所示,閘級-源極電荷 (Qgs) 是到達電壓 (Vgs) 幾乎恆定的高原區域開始處所需的電荷。根據 JEDEC 標準,高原 (或米勒) 電壓 (Vpl) 定義為 dVgs/dt 最小時的閘極-源極電壓。電壓高原是電晶體從關斷狀態切換到導通狀態時的區域。完成此切換所需的閘級電荷—將裝置從高原區域的開始處切換到結束所需的電荷—定義為閘級-汲極電荷 (Qgd),其稱為米勒電荷。閘級電荷 (Qg) 是從原點到閘級源極電壓 (Vgs) 等於指定最大值 (VgsMax) 之點的電荷。

 
顯示功率 MOSFET 的閘級電壓相對於閘級電荷的 MOSFET 閘級電荷測量圖
圖 1. 功率 MOSFET 的典型閘級電壓相對於閘級電荷。
 

S1 是從原點到第一個高原點之線段的斜率。S2 是從最後一個高原點到指定最大閘級電壓 (VgsMax) 之線段的斜率。這些斜率用於計算 Qgs 和 Qgd,如 JESD24-2 標準所指定。

圖 2 將典型閘級和汲極波形顯示為時間的函數。當電流被迫流向閘級時,Vgs 會增加,直到達到臨界值電壓為止。在這一點,汲極電流 (Id) 開始流動。當 Cgs 在時間 t1 充電時,Id 會保持恆定,汲極電壓 (Vd) 會降低。Vgs 會保持恆定,直到到達高原結束為止。當 Cgd 在時間 t2 充電時,閘極-源極電壓 (Vgs) 會再次開始增加,直到達到指定的最大閘極電壓 (VgsMax) 為止。

 
將閘級和汲極波形顯示為時間函數的圖形
圖 2. Vgs、Vd 與 Id 相對於 MOSFET 的時間
 

使用 4200A-SCS 進行 MOSFET 閘級電荷測量

4200A-SCS 使用兩個 SMU 儀器測量功率 MOSFET 的閘級電荷。圖 3 顯示了閘級電荷測試的基本電路圖。一個 SMU (SMU1) 的強制 HI 端子連接到 MOSFET 的閘級端子,強制閘級電流 (Ig) 並將閘級-源極電壓 (Vgs) 測量為時間的函數。第二個 SMU (SMU2) 以指定的電流相容性 (Ib) 將固定電壓 (Vds) 供應到汲極。4200-SMU 的最大相容性電流為 0.1 A;4210-SMU 的最大相容性為 1 A。

在閘級電荷測試期間,閘級電壓會增加並導通電晶體。在高原區域的這個轉換期間,汲極 SMU (SMU2) 會從電壓控制切換到電流控制模式,因為電流超過了指定的相容性層級。軟體會在轉換期間將汲極電流暫態與汲極電壓從關斷狀態恢復到導通狀態。

MOSFET 的源極端子連接到 4200A-SCS 底盤的強制 LO 端子或 GNDU。

 
使用兩部電源量測設備 (SMU) 儀器的 MOSFET 閘級電荷測試組態
圖 3. 使用兩部 SMU 儀器的閘級電荷測試組態。
 

設定 Clarius+ 軟體進行 MOSFET 閘級電荷測量

閘級電荷測試位於測試庫和專案庫中,可以透過搜尋片語「閘級電荷」在「選取」窗格中找到它們。在測試庫中找到測試後,可以透過選取並將其新增至專案工作流程來將其新增至專案。此測試是從 GateCharge 使用者庫中的 gateway_charge 使用者模組建立的。

輸入輸入參數

在執行測試之前,您需要在 Clarius 軟體的「設定」窗格中輸入輸入測試參數 (圖 4)。輸入參數將根據裝置和使用的 SMU 機型而有所不同。

 
在 Keithley Clarius 軟體的組態檢視中設定 MOSFET 閘級電荷測試
圖 4. 設定檢視中的閘級電荷測試。
 

輸入參數的說明如表 1 所列。首先,輸入連接到 MOSFET 之閘級 (gateSMU) 和汲極 (drainSMU) 的 SMU 編號。源極端子應一律連接至 GNDU 或強制 LO。

由 gateSMU 強制流向閘級的電流振幅是 gateCurrent (Ig) 參數。汲極電壓 (Vds) 是供應到汲極的偏差電壓,drainLimitI 是汲極 SMU 的相容性電流。

Coffset 參數用於修正偏移電容,並在以下段落中說明。

表 1. gateway_charge 使用者模組的輸入參數。

輸入參數 值範圍 預設值 說明
gateSMU SMU1-SMU9 SMU1 連接到閘級端子的 SMU 編號
drainSMU SMU1-SMU9 SMU2 連接到汲極端子的 SMU 編號
訊號源 GNDU GNDU 源極端子一律連接到 GNDU 上的強制 LO 端子
Vds ±200 V 10 V 汲極 SMU 之汲極偏差電壓的振幅
drainLimitI 4200-SMU:0.1A
4210-SMU:1 A
0.1 A 汲極 SMU 的電流相容性
gateCurrent ± 1E-5 A 1e-7 A 閘級 SMU 之閘級電流的振幅
VgsMax ±200V 10 V 閘級 SMU 的最大電壓位準
逾時 0 至 300 s 60 s 逾時前的秒數。
measDrain 1 (是) 或 0 (否) 1 傳回測量的汲極電流
Coffset 0 或 Ceff 0 執行開路測試,然後輸入傳回規格表的 Ceff 值

 

修正偏移電容 

根據測量系統的佈線和連接,偏移電容可以在一微微法拉到數百微微法拉的範圍內。這些電容可以透過開路執行 gate_charge 使用者模組,獲得偏移電容,然後在軟體中輸入偏移電容值進行補償來修正。以下是執行這些步驟的方法:

  1. 測量偏移電容。設定測試參數,包括就像裝置已連接至 SMU 一樣輸入閘級電流。(僅針對 Ceff 測量增加 VgsMax。) 在執行測試之前,請提起探棒或從測試治具上取下裝置。以開路執行閘級電荷測試。
  2. 取得偏移電容。執行測試後,會計算系統的測量偏移電容並將其顯示在規格表的 Ceff 欄中。Ceff 從最大閘級電壓、閘級電流和時間得出。
    由於在此步驟中測量的是開路,因此執行測試後,規格表中可能會出現 -9 或 -12 的測試狀態值。這是因為沒有測量任何裝置,因此不存在高原區域。但是,Ceff 值是正確的,可以在設定檢視中輸入為 Coffset。
  3. 輸入測得的偏移電容並執行。在設定檢視中為 Coffset 輸入測得的偏移電容 Ceff。預設情況下,Coffset 為 0 F。將為後續讀數中的偏移電容進行補償。

執行測試

輸入輸入參數後,透過選取螢幕頂部的「執行」來執行測試。當測試正在執行中時,閘級電荷波形將會在分析檢視的圖形中即時更新,計算出的輸出參數將出現在規格表中。

檢視輸出參數

測試完成後,會將幾個參數傳回到規格表中。表 2 列出了這些參數的說明。

表 2. gateway_charge 使用者模組的輸出參數

 
輸出參數 說明
gate_charge 測試狀態值 - 如需說明,請參閱表 3
timeArray 測得的時間 (秒)
VgArray 測得的閘級-源極電壓 (伏特)
VgCharge 測得的閘級電荷 (庫侖)
VdArray 測得的汲極電壓 (伏特)
IdArray 測得的汲極電流 (安培)
斜率 閘級電壓的動態斜率 (dVg/dt)
Ceff 閘級電荷與最大閘級電壓的比
Vpl 高原或米勒電壓 (伏特)
T1 高原區域開始的時間戳記 (秒)
T2 高原區域結束的時間戳記 (秒)
Qgs 從原點到第一個轉折點的閘級電荷,或電壓高原 (庫侖)
Qgd 在閘級電荷曲線中的兩個轉折點之間的閘級電荷 (庫侖)
Qg 從原點到 VgsMax 的閘級電荷 (庫侖)
 

 

繪製結果

產生的閘級-源極電壓可以繪製為閘級電荷或汲極電流的函數,且汲極電壓可以繪製為時間的函數。圖 5 是 4200A-SCS 產生的典型閘級電壓波形

 
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀產生的 MOSFET 閘級電壓波形
圖 5. 4200A-SCS 產生的典型閘級電壓波形。
 

除了繪製 Vgs 外,還可以將 Vds 和 Id 繪製為 MOSFET 閘級電荷或時間的函數。圖 6 顯示了 Clarius 軟體分析檢視中的圖形,其中顯示了繪製為閘級電荷函數的全部三個參數。在此例中,電壓顯示在 Y1 軸上,電流繪製在 Y2 軸上。

 
Vgs、Vds 與 Id 作為 MOSFET 閘級電荷相對時間的函數
圖 6. Vgs、Vds 與 Id 作為閘級電荷的函數。
 

檢查測試狀態

每次執行測試時,測試狀態值都會傳回到規格表中的第一欄,名為「gate_charge」。表 3 列出了在「gate_charge」欄中傳回的測試狀態值及其對應說明與摘要。

表 3. 測試狀態值

測試狀態 說明 附註
1 沒有錯誤 測試成功。
-1 閘級 SMU 不存在 指定正確的 SMU。
-2 汲極 SMU 不存在 指定正確的 SMU。
-3 VgsMax > 200 V 驗證閘級電壓是否小於 200V。降低閘級電壓。
-4 汲極電流限制超過 1 A (4210-SMU)
汲極電流限制超過 0.1 A (4200-SMU)
驗證汲極電流是否小於 1 A (或對中等功率 SMU 為 0.1 A)。降低汲極電流限制 (drainLimitI)。
-5 超出功率限制 電流應為 < 0.1A if V >20V。降低汲極電流限制 (drainLimitI) 或汲極電壓 (Vds)。
-6 輸入條件錯誤檢查。將逾時限制為 200 秒。 將逾時指定為 <200 秒。
-7 測試時間超過指定逾時 (timeOut)。 增加逾時。最大值為 200 秒。嘗試增加 gateCurrent 以為裝置更快充電。
-8 迭代/測量次數 >10000。 增加閘級電流 (gateCurrent)。
-9 迭代/測量次數 <5 減少閘級電流 (gateCurrent)。檢查裝置、測試設定以獲得正確的 SMU。
如果在測量開路以進行偏移修正時發生此錯誤,則可忽略此錯誤。Ceff 值仍然有效。
-10 從原點到第一個高原點的點數 <10 減少閘級電流 (gateCurrent)
-11 計算斜率 S1 時發生錯誤。關聯係數 < 0.9。從原點到第一個高原點的曲線不是線性。 檢查裝置及測試設定。
-12 計算斜率 S2 時發生錯誤。關聯係數 < 0.9。從最後一個高原點到 VgsMax 的曲線不是線性。 檢查裝置及測試設定。如果 VgCharge 或 VdArray 偏高,請嘗試降低 gateCurrent 並重複測試。
如果在測量開路以進行偏移修正時發生此錯誤,則可忽略此錯誤。Ceff 值仍然有效。
-13 Vds > 200 V 減少汲極電壓。
-14 gateCurrent > 10 µA 減少閘級電流 (Ig)。

 

結論

使用 Keithley 4200A-SCS 參數分析儀可以輕鬆測量電晶體上的 MOSFET 閘級電荷。使用連接到裝置閘級與汲極的兩部 SMU 儀器,Clarius 軟體可以輕鬆導出閘級電荷波形。

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Mosfet 閘極電荷常見問答集

什麼是 MOSFET 的汲極-源極導通電阻?

MOSFET 切換裝置可在導通和關斷狀態下操作。在「導通」狀態下,開關的阻抗理論上為零,無論有多少電流流過開關,開關中的功率都不會耗散。在「關斷」狀態下,開關的阻抗理論上是無限大,因此沒有電流流動,也沒有功率會耗散。

汲極-源極導通電阻 (RDS(on)) 是 MOSFET 在導通狀態時的汲極與源極之間的有效電阻。當施加特定閘極至源極電壓 (VGS) 時,就會發生這種情況。一般而言,隨著 VGS 的增加,導通電阻就會降低。MOSFET 導通電阻越低越好,因為低電阻可以減少不需要的功率耗散,進而提高裝置的電源效率。

如何在曲線追蹤儀上測試 MOSFET 的汲極-源極導通電阻?

答案:汲極-源極導通電阻 - RDS(on)

什麼是汲極-源極導通電阻?

汲極-源極導通電阻 (RDS(on)) 是當施加特定閘極至源極電壓 (VGS) 以使裝置偏壓至導通狀態時,MOSFET 汲極與源極之間的電阻。隨著 VGS 的增加,導通電阻通常會降低。測量在裝置的歐姆 (即線性) 區域中進行。一般來說,MOSFET 導通電阻越低越好。

追蹤該電阻的方法之一是使用曲線追蹤儀。在曲線追蹤儀上,所謂的「集極供應」會驅動汲極,而「步進產生器」會驅動閘級。有關如何使用曲線追蹤儀測試 MOSFET 汲極-源極導通電阻的逐步指示,請參閱下文。有關如何使用示波器或 SMU 測量 MOSFET 導通電阻的指示,請參閱我們的「什麼是 MOSFET 的汲極-源極導通電阻?」常見問答集。

螢幕顯示的內容:

螢幕在水平軸上顯示 VDS,在垂直軸上顯示產生的 ID 。當在指定的 VDS 下,VDS/ID 小於或等於指定最大值時,即符合規格。

如何在曲線追蹤儀上測試 MOSFET 的汲極-源極導通電阻?

1. 在「控制」下,設定:

            A:將最大峰值電壓設定為高於指定 VDS 的最低設定

            B:將最大峰值功率瓦數設定為滿足 (ID x VDS) 的最低設定

            C:集極供應極性對 N 波道為 (+DC),或對 P 波道為 (-DC)  

            D:水平伏特/格,可顯示第 5 與第 10 個水平格之間的 VDS

            E:垂直電流/格,可顯示第 5 與第 10 個垂直格之間的 ID

            F:至最小值 (零) 的步階數量

            G:至電壓的步進產生器

            H:用以應用正向偏壓的步進產生器極性 (對 N 波道為 +),(對 P 波道為 -)

            I:步進/偏移振幅至指定 VGS 的約 50%

            J:脈波至長       

            K:對 (基極/步進產生器、射極/一般) 的組態

            L:可變集極供應至最低 % (全 ccw)

            M:DotCursor 開啟

2. 對 MOSFET 供電:

            A: 適當切換左/右開關的位置

            B:緩慢增加可變集極供應,直到達到指定的 VDS

3. 與產品規格表規格比較:

            A:檢查 VDS/ID 是否小於或等於指定最小值

Tektronix 曲線追蹤儀是已停產的產品。我們設計了更有效率、更準確的方法與解決方案,以在更精簡的外形尺寸上支援曲線追蹤功能。一個此類解決方案是基於使用雙通道 SMU 或兩個單通道 SMU 與軟體來控制偏壓電壓步進產生和相對汲極至源極電壓降。如需瞭解更多資訊,請參閱我們的「什麼是 MOSFET 的汲極-源極導通電阻? 」常見問答集。

如何測量 MOSFET 的跨導?

跨導是驗證電力電子裝置設計中 MOSFET 效能的關鍵測試。它可確保 MOSFET 正常運作,並在電壓增益是其電路設計的關鍵規格時幫助工程師選擇最佳的 MOSFET。它還能夠幫助公司更快地將功率半導體裝置推向市場,同時最大限度地減少現場故障。

跨導是施加固定汲極-源極電壓時,汲極電流 (ID) 對閘極-源極電壓 (VGS) 的比值。電流對電壓比一般稱為增益。跨導是與 MOSET 的臨界值電壓 (VTH) 嚴格相關的關鍵參數,且兩者都與閘極通道的尺寸有關。由 I-V 測量得出 MOSFET 跨導的公式為:

gm = ΔID / ΔVGS

如何測量 MOSFET 的跨導?

在第一種組態中顯示的方法需要三個電源量測設備 (SMU),讓每個節點保持在回饋控制電壓之下,並同時測量每個電流。 如果您沒有足夠的 SMU 通道來覆蓋每個裝置通道連接,則可以按照第二種組態中顯示的方式進行。應該注意的是,這種組態更容易受到雜訊接地連接的影響,如果使用長纜線,可能會產生接地迴路。此外,也無法測量源極端子的電流和電壓,這可能會導致計算錯誤。

測量跨導

  1. 在所需範圍內掃描閘級電壓 (VGS),同時保持恆定汲極/源極電壓 (VDS)
  2. 測量 VGS 每個增量步進的汲極電流 (ID)。
  3. 透過將電流 ID 中的微小變化除以 VGS 中的微小變化來計算跨導 (gm)。

此處顯示的紅色繪圖線說明了跨導 (gm) 和最大跨導值 (Vth)。

瞭解有關安全、精確和快速 MOSFET 裝置特性測試的更多資訊。

如何在曲線追蹤儀上測試 MOSFET 的零閘級電壓汲極電流?

答案:零閘級電壓汲極電流 - IDSS

什麼是零閘級電壓汲極電流? 

零閘級電壓汲極電流是 VGS=0 時流過的 ID。 它是耗盡模式 MOSFET 中的導通狀態電流和加強模式 MOSFET 中的關斷狀態電流。

IV 曲線追蹤儀上,集極供應會驅動汲極,而閘級會對源極短路以使 VGS=0。

螢幕顯示的內容:

螢幕在水平軸上顯示 VDS,在垂直軸上顯示產生的 ID 。  當 VGS=0 且供應指定 VDS,ID 小於或等於指定最大值時,即符合規格。

執行方式:

1. 設定控制項:

            A:將最大峰值電壓設定為高於指定 VDS 的最低設定

            B:將最大峰值功率瓦數設定為滿足 (ID x VDS) 的最低設定

            C:水平伏特/格,可顯示第 5 與第 10 個水平格之間的 VDS

            D:垂直電流/格,可顯示第 5 與第 10 個垂直格之間的 ID

            E:集極供應極性對 N 波道為 (+DC),或對 P 波道為 (-DC)

            F:對 (基極/短路、射極/一般) 的組態

            G:可變集極供應至最低 % (全 ccw)

            H:DotCursor 導通

2. 對 MOSFET 供電:

            A: 適當切換左/右開關的位置

            B:緩慢增加可變集極供應 %,直到達到指定的 VDS

3. 與產品規格表規格比較:

            檢查在指定 VDS 時,ID 是否小於或等於指定最大值。

如何在曲線追蹤儀上測試 MOSFET 的閘級臨界值電壓?

答:閘級臨界值電壓 - VGS(th)

什麼是閘級臨界值電壓? 

閘級臨界值電壓是指定少量 ID 流量時的最低 VGS。  測試是在 VGS = VDS 之下執行。

在曲線追蹤儀上,集極供應提供 VDS。  可使用跳接線將閘級短路至汲極狀態,以使 VGS=VDS。

螢幕顯示的內容:

VGS 顯示在水平軸上,產生的 ID 顯示在垂直軸上。  當在指定的 ID 下,VGS 在最小/最大限制內時,即符合規格。

執行方式:

1. 設定控制項:

            A:將最大峰值電壓設定為高於指定 VGS 的最低設定

            B:將最大峰值功率瓦數設定為滿足 (ID x VDS) 的最低設定

            C:水平伏特/格,可顯示第 5 與第 10 個水平格之間的 VGS

            D:垂直電流/格,可顯示第 5 與第 10 個垂直格之間的指定 ID。

            E:集極供應極性對 N 波道為 (+DC),或對 P 波道為 (-DC)

            F:對 (基極/導通、發射器/一般) 的組態

            G:可變集極供應至最低 % (全 ccw)

            H:DotCursor 導通

2:連接跳接線:

            A:在介面區域未使用側上的基極與集極端子之間連接跳接線

            B:在治具區域未使用側上的基極感應與集極感應端子之間連接第二條跳接線

3. 對 MOSFET 供電:

            A:將左/右開關切到「二者」

            B:緩慢增加可變集極供應 %,直到達到指定的 ID 或最大臨界值電壓 - 以先到者為準

4. 與產品規格表規格比較:

            檢查閘級臨界值電壓是否在指定的限制最小/最大值之內

如何在曲線追蹤儀上測試跨導 (gFS) 與正向導納的 MOSFET?

答案:跨導 (gFS) 和正向導納

什麼是跨導和正向導納? 

跨導是 ID 對 VGS 的比。  I/V 比一般稱為增益。

在曲線追蹤儀上,集極供應會驅動汲極,而步進產生器則驅動閘級。

螢幕顯示的內容:

螢幕在水平軸上顯示 VDS,在垂直軸上顯示產生的 ID 。  使用提供閘級驅動的步進產生器,當閘級驅動產生成比例的 ID 時,曲線將從水平軸向上位移。當在指定的 VGS 或指定的 ID 下,ID 對 VGS 比等於或大於指定最小值時,即符合規格。

執行方式:

1. 設定控制項:

            A:將最大峰值電壓設定為高於指定 VDS 的最低設定

            B:將最峰值功率瓦數設定為最低設定以滿足 (ID x VDS)

            C:集極供應極性對 N 波道為 (+DC),或對 P 波道為 (-DC)

            D:水平伏特/格,可顯示第 5 與第 10 個水平格之間的指定 VDS

            E:垂直電流/格,可顯示第 5 與第 10 個垂直格之間的指定 ID。

            F:至最小值 (零) 的步階數量

            G:至電壓的步進產生器

            H:用以應用正向偏壓的步進產生器極性 (對 N 波道為 +),(對 P 波道為 -)

            I:步進/偏移振幅至指定 VDS 的約 1%

            J:脈波至長       

            K:對 (基極/步進產生器、射極/一般) 的組態

            L:可變集極供應至最低 % (全 ccw)

            M:DotCursor 開啟

2. 對 MOSFET 供電:

            A: 適當切換左/右開關的位置

            B:緩慢增加可變集極供應 %,直到達到指定的 VDS

3. 調整參數:

            按住「偏移輔助」,直到曲線出現明顯的垂直位移為止。  有必要重新調整可變集極 % 以維持 VDS。  繼續交替調整「步進偏移」和 VDS,直到達到指定的操作點為止。

4. 計算跨導 (gFS):

             直接從遊標讀數讀取 gFS

5. 與產品規格表規格比較:

              檢查值是否等於或大於指定的最小值

正向導納是表示跨導的另一種方法,透過將曲線追蹤儀設定為測量跨導 (如上所述)、將「水平伏特/格」切換到「步進產生器」、使用「掃描」完成曲線,然後將遊標變更至 F 線並將 F 線的斜率定位至與曲線相切為止來進行測量。

如何在曲線追蹤儀上測試導通狀態汲極電流的 MOSFET?

答案: 導通狀態汲極電流 - ID(on)

什麼是導通狀態汲極電流?

導通狀態汲極電流是具有指定 VGS 的 ID,可將裝置偏壓至導通狀態。  測量在裝置的歐姆 (即 線性) 區域中進行。

在曲線追蹤儀上,集極供應會驅動汲極,而步進產生器則驅動閘級。

螢幕顯示的內容:

螢幕在水平軸上顯示 VDS,在垂直軸上顯示產生的 ID 。  當在指定的 ID 下,ID 大於或等於指定最小值時,即符合規格。

執行方式:

1. 設定控制項:

            A:將最大峰值電壓設定為高於指定 VDS 的最低設定

            B:將最大峰值功率瓦數設定為滿足 (ID x VDS) 的最低設定

            C:集極供應極性對 N 波道為 (+DC),或對 P 波道為 (-DC)  

            D:水平伏特/格,可顯示第 5 與第 10 個水平格之間的 VDS

            E:垂直電流/格,可顯示第 5 與第 10 個垂直格之間的 ID

            F:至最小值 (零) 的步階數量

            G:至電壓的步進產生器

            H:用以應用正向偏壓的步進產生器極性 (對 N 波道為 +),(對 P 波道為 -)

            I:步進/偏移振幅至指定 VGS 的約 50%

            J:脈波至長       

            K:對 (基極/步進產生器、射極/一般) 的組態

            L:可變集極供應至最低 % (全 ccw)

            M:DotCursor 開啟

2. 向裝置供電:

            A: 適當切換左/右開關的位置

            B:緩慢增加可變集極供應,直到達到指定的 VDS

3. 與產品規格表規格比較:

            A:檢查 ID 是否等於或大於指定的最小值

如何在曲線追蹤儀上測試 MOSFET 的汲極-源極崩潰電壓?

答案:汲極-源極崩潰電壓 - V(br)DSS

什麼是汲極-源極崩潰電壓?

汲極-源極崩潰電壓是 ID 流動的指定值,即 VGS=0 的 VDS。 由於它是通過夾止通道的反向電流,ID 會呈現出膝形上升,一旦發生崩潰就會迅速增加。

在曲線追蹤儀上,集極供應會驅動汲極,而閘級會對源極短路以使 VGS=0。

螢幕顯示的內容:

螢幕在水平軸上顯示 VDS,在垂直軸上顯示產生的 ID 。  當在指定的 ID 下,VDS 大於或等於指定最小值時,即符合規格。

執行方式:

1. 設定控制項:

A:將最大峰值電壓設定為高於指定最小值的最低設定

     VDS

            B:將最大峰值功率瓦數設定為滿足 (ID x VDS) 的最低設定

            C:水平伏特/格,可顯示第 5 與第 10 個水平格之間的 VDS

            D:垂直電流/格,可顯示第 5 與第 10 個垂直格之間的 ID                  

            E:對 +洩漏 (針對N 波道) 或 -洩漏 (針對 P 波道) 的集極供應極性

            F:對 (基極/短路、射極/一般) 的組態

            G:可變集極供應至最低 % (全 ccw)

            H:DotCursor 導通

2. 對 MOSFET 供電:

            A: 適當切換左/右開關的位置

            B:緩慢增加可變集極供應 %,直到達到指定的 ID

3. 與產品規格表規格比較:

            檢查在指定 ID 時,VDS 是否大於或等於指定最小值

如何在曲線追蹤儀上測試 MOSFET 的前向閘級體洩漏電流?

答案:零閘級電壓汲極電流 - IDSS

什麼是零閘級電壓汲極電流?

零閘級電壓汲極電流是 VGS=0 時流過的 ID。 它是耗盡模式 MOSFET 中的導通狀態電流和加強模式 MOSFET 中的關斷狀態電流。

在曲線追蹤儀上,集極供應會驅動汲極,而閘級會對源極短路以使 VGS=0。

螢幕顯示的內容:

螢幕在水平軸上顯示 VDS,在垂直軸上顯示產生的 ID 。  當 VGS=0 且供應指定 VDS,ID 小於或等於指定最大值時,即符合規格。

執行方式:

1. 設定控制項:

            A:將最大峰值電壓設定為高於指定 VDS 的最低設定

            B:將最大峰值功率瓦數設定為滿足 (ID x VDS) 的最低設定

            C:水平伏特/格,可顯示第 5 與第 10 個水平格之間的 VDS

            D:垂直電流/格,可顯示第 5 與第 10 個垂直格之間的 ID

            E:集極供應極性對 N 波道為 (+DC),或對 P 波道為 (-DC)

            F:對 (基極/短路、射極/一般) 的組態

            G:可變集極供應至最低 % (全 ccw)

            H:DotCursor 導通

2. 對 MOSFET 供電:

            A: 適當切換左/右開關的位置

            B:緩慢增加可變集極供應 %,直到達到指定的 VDS

3. 與產品規格表規格比較:

            檢查在指定 VDS 時,ID 是否小於或等於指定最大值。