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應用/產業

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現場研討會

「2024 電源技術論壇」 高效功率元件與AI伺服器技術應用和設計挑戰

12/4/2024

9:00 AM - 4:40 PM CST

隨著功率半導體與AI技術的迅速演進,AI伺服器對高效穩定的電源需求越發迫切,功率元件的設計與測試已成為關鍵挑戰。未來電源系統不僅需要提升轉換效率,更要確保伺服器在高負載下的穩定性與可靠性,這為電源設計與測試帶來了前所未有的機遇與挑戰。

為協助您應對這些技術變革,Tektronix將於12月4日舉辦「2024 電源技術論壇」。此次論壇匯聚行業尖端專家,並特別邀請碇基半導體與羅姆半導體深入剖析GaN、SiC等新一代功率半導體技術,揭示其在資料中心與AI伺服器等高效能應用中的關鍵角色。

除此之外,我們精心規劃了一系列熱門議題,涵蓋元件設計到電源測試解決方案的核心技術並分享如何優化電源系統的效能與可靠性,為您提供前瞻性的專業見解與實用方案。誠摯邀請您參加這場技術盛會,與業界尖端專家零距離互動,共同探討最新電源技術與應用解決方案,攜手應對挑戰,掌握未來技術先機。

半導體

應用/產業

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展示会

SEMICON Japan
商展

SEMICON JAPAN 2024

12/11/2024 - 12/13/2024

10:00 AM - 5:00 PM JST

材料、部品、半導体デバイスなどのあらゆる研究/開発フェーズにおけるオン・ウェハ特性評価や信頼性試験、不良解析などの作業効率化と導入コストの低減へのソリューションとともに、量産テストに貢献するソリューションをご提案します。

日時:12月11-13日(水ー金)10:00~17:00

場所:東京ビッグサイト https://www.bigsight.jp/visitor/access/

ブース位置:東1/2/3ホール #2022

Power Electronics

應用/產業

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網路研討會

計測機器の基本的な取扱いについて(初級者用) ‐ 校正の必要性、計測機器の維持管理‐

視需求

このセミナーでは、正しい校正を行なうために必要な、基本的な校正の考え方についてまとめました。計測機器を適切に維持管理するためには、正しい校正の理解が必要となります。

■ 対象者
  • 初めて計測機器の校正管理に携わる方
  • 計測機器の正しい校正方法を学びたい方
■ 所要時間 35分

校驗和測試服務

應用/產業

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オンデマンドWebセミナ

Oscilloscope Primer by 2 series on demand

オシロスコープ入門 - 初心者向け (前編/後編 )

視需求

テクトロニクス最新型2シリーズ・オシロスコープを使った初心者向けのオシロスコープ入門セミナです。
オシロスコープ使用にあたって覚えておくべき基本項目について説明します。
プローブ補正、トリガ設定、自動測定など、前編/後編で解説します。
間違った操作の防ぎ方、オシロスコープの使用における誤解など基本にして必須の知識をご説明します。

オシロスコープ入門 前編 【所要時間:47分】
オシロスコープ入門 後編 【所要時間:54分】

相容性和預相容性

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網路研討會

[On Demand] Tektronix 4/5/6 Series MSO Latest New Features

視需求

Do you know that Tektronix releases quarterly firmware updates for our beloved 4, 5 and 6 Series Mixed Signal Oscilloscope? We continuously gather your feedbacks and comments as we know that your measurement needs are ever-evolving. The firmware update will make sure that your voice and needs are taken care of.

Join this session and learn what are the latest addition that we have for your oscilloscope:
- New Features
- New Serial Bus Support
- New Applications
- Bug Fixes

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嵌入式設計

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WEBINAR

網路研討會

[On Demand] Optimizing the Battery Performance of Everyday Devices with Keithley

視需求

As battery-powered devices have become a staple of everyday life, battery performance has become a critical factor in device design. Due to the criticality of battery performance, along with the wide range of battery types, test and design engineers working with battery powered devices need a faster way to optimize their device’s performance and battery life.

When Keithley’s KickStart Software, and the KickStart Battery Simulator App is paired with the 2281S, battery model generation becomes simple. KickStart Software’s intuitive interface, model editing abilities, and battery model repository allow the test and design engineer to create battery models at different conditions and test their device against these various models quickly.

Join us for this live webinar to learn more on Keithley solution today!

工業用

應用/產業

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[On Demand] Speeding Up Test and Analysis of Your Inverters and Motor Drives

視需求

Measurements and analysis on three-phase power systems are inherently more complex than on single-phase systems. Although oscilloscopes can capture voltage and current waveforms with high sample rates, further calculations are required to produce key power measurements from the data.

Learn how Inverter Motor and Drive Analysis (IMDA) software from Tektronix makes it easier than ever to perform three-phase analysis and correlation of control timing and power output characteristics on devices such as AC induction motors, permanent magnet synchronous motors (PMSM), and brushless DC (BLDC) motors. Sign up to watch on demand.

電源效率和 IoT

應用/產業

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網路研討會

[On Demand] Characterization of Snapback for ESD Protection Devices

視需求

Learn more about the snapback phenomenon and Keithley's solution to tackle this challenging topic in semiconductor test and measurement.

半導體

應用/產業

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網路研討會

[On Demand] Simplifying Material Resistivity and Hall Voltage Measurements with Parametric Analyzer

視需求

In the field of semiconductor material research and device testing, a crucial aspect is to determine the resistivity and Hall voltage of a given sample.

The Van der Pauw method is a widely used technique for assessing the resistivity. With the 4200A-SCS parametric analyzer, researchers can benefit from a built-in test module, eliminating the need for programming and automation, and enabling them to concentrate on comprehending the materials.

This webinar will provide insights into measuring resistivity and Hall voltage using the Van der Pauw method and how to conduct this test effortlessly by using the 4200A-SCS parametric analyzer.

Join us for this FREE webinar today!

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Are the bit errors in your data caused by the power supply or sources inside the digital channel? Let's end the dispute.

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SiC/GaN Components: 5 Key Tests

Learn techniques for high power characterization of Silicon Carbide (SiC) and Gallium Nitride (GaN) components.