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吉時利光學 SourceMeter 儀器
吉時利儀器可讓您輕鬆建置 LIV (弱電流電壓) 系統，以經濟實惠的方式測試雷射二極體模組。
- 2520 脈波電射二極體測試系統：同步化測試系統提供輸出和量測功能，可進行脈衝和連續 LIV 測試。
- TEC SourceMeter SMUs、2510 和 2510-AT：藉由控制其熱電冷卻器，確保嚴密控制雷射二極體模組的溫度。
基本價格
US $8,780
+
功能 |
優點 |
| 主動式溫度控制 | 防止可能導致雷射二極體的主要輸出波長變更的溫度變化，因為可能會產生訊號重疊和串音問題。 |
| 50W TEC 控制器 | 比起其他低功率解決方案，允許更高的測試速度和更寬的溫度設定點範圍。 |
| 完全數位 P-I-D 控制 | 提供更大的溫度穩定性，而且只需簡單變更韌體，即可輕鬆升級。 |
| 自動調整熱控制迴路的容量 (2510-AT) | 免除需要使用反覆嘗試錯誤的實驗方法，以判定 P、I 和 D 係數的最佳組合。 |
| 寬溫度設定點範圍 (–50°C 到 +225°C) 和高設定點解析度 (±0.001°C)，以及穩定性 (±0.005°C) | 涵蓋冷卻光學組件和子組件的生產測試的大部分測試需求。 |
| 與各種溫度感應器輸入—熱阻器、RTD 和 IC 感應器相容 | 使用最常用於廣泛雷射二極體模組的溫度感應器類型。 |
| 交流歐姆量測函數 | 驗證 TEC 裝置的完整性。 |
| 熱回饋元素的 4 線開路/短路導線偵測 | 消除量測值上的導線電阻錯誤，因而可減少假故障或裝置損壞的機率。 |
配件
2510-CAB
產品規格表
說明
纜線組件
配件
4288-1
產品規格表
說明
單固定式機架安裝套件
配件
4288-2
產品規格表
說明
雙固定式機架安裝套件