摘要

標題	摘要	演講者
寬能隙應用和驗證測試挑戰	與矽基電源裝置相較，寬能隙 (WBG) 電源裝置 (SiC 和 GaN) 具有明顯的優勢。WBG 半導體在電源裝置的未來中扮演著重要的角色。而與矽晶片相較之下，WBG 半導體體積更小、速度更快，而且效率更高。但是同時也帶來了一些驗證測試挑戰。Tektronix 將在本課程中介紹寬能隙測試的挑戰、量測技術和測試設備的需求，包括對示波器、探測技術和自動測試軟體的要求，這些將有助於因應寬能隙半導體裝置所帶來的嚴峻挑戰。	Krishna N. H. Sri, Yogesh Pai
PCIe Gen5、Gen6 開發和與 IEEE 802.3ck 電氣乙太網路的比較	我們將回顧在 32 GBd NRZ 時的 PCIe 5 以及在 32 GBd PAM4 時的 PCIe 6 的電流狀態。接著，我們將討論從 PCIe 5 到 6 的關鍵變化，最後會討論 PAM4 訊號對系統和測試的影響，以及電氣乙太網路和乙太網路 IEEE 802.3ck 中的 PAM4。	David Bouse, Pavel Zivny
BioFETs 和 BioFET 測試簡介	BioFET 是電子元件和生物試劑的獨特混合物。同時也是強大的感測器，可用於檢測病毒、氣體和分子化合物。本會議終將介紹 bioFET 背後的科學基礎及其可進行的量測。	Brad Odhner
電力電子市場與技術趨勢	汽車電氣化、綠色能源、資料中心和消費類裝置持續推動著電力電子市場的創新和成長。市場研究和技術分析領導者 Yole Development 將介紹推動全球電力電子市場成長的關鍵技術驅動因素和市場趨勢，從半導體到最終市場產品。	Michael Schneider, Tektronix, with Rafael Della-Giustina, Yole Development - Power & Wireless & RF Divison
Tektronix 探索創新：突破過去和未來發展	瞭解 Tektronix 50 多年來始終獨占探測領域鰲頭的原因。從 1969 年到 2020 年，不論是早年的專利申請至今仍是同級中的最佳產品，或是在突破性細分市場中的領先地位屹立不搖，Tektronix 始終專注於電路與示波器之間的訊號路徑。我們將介紹簡單的被動式探棒如何在十年內無人能及，以及物理學博士學位論文上的一個簡單電路如何需要數年的時間以及幾種秘密的製造方法才能成為可用的電流探棒。	Seamus Brokaw
全面探討由電源完整性問題引起的抖動分析	整合至除錯 SERDES、電路、網路和系統的強大工具的問題。我們有一組很棒的成員，可以快速概述這些挑戰並回答您的問題： Maria Agoston，Tektronix 首席工程師，致力於數位訊號處理以及抖動和雜訊分析技術。 Steve Sandler，Picotest 創始人兼執行長，是電源完整性和分散式電源系統設計的作者和講師。 Tony Ambrose，Tektronix 應用工程師，專門研究高速串列資料應用。 Cameron Lowe，Tektronix 現場應用工程師，專門研究電源完整性應用。	Chris Loberg Steve Sandler Maria Agoston Cameron Lowe Tony Ambrose
寬能隙半導體：為節能和電網存取做好萬全的準備	與同類的矽 (Si) 基產品相較，寬能隙 (WBG) 半導體材料可使電源電子元件更小、更快、更可靠、更高效。這些功能可以在各種電源應用中達到降低重量、體積和生命週期成本的目標。利用這些功能可在工業加工處理和消費類電器中產生顯著的節能效果，加速電動汽車和燃料電池的廣泛使用，並有助於將可再生能源整合到電網中。來自寬能隙半導體領導供應商 Cree-Wolfspeed 的演講嘉賓 Cam Pham 將主持有關趨勢和未來可能性的討論。	Chris Loberg Cam Pham
汽車有線和無線及射頻通訊	自動駕駛和互聯車輛正在推動新的架構、更快速的有線和無線以及射頻標準。我們將說明網域/區域控制器，並討論其將為車載網路架構帶來哪些變化，重點介紹一些測試挑戰量測要求。同時還會介紹用於免鑰匙車輛存取系統和汽車雷達量測要求的無線和射頻標準，例如超寬頻帶 (IEEE 802.15.4z)，亦將討論上述標準的各個測試案例，並探討工程師在測試過程中可能遇到的陷阱設定和執行細節。透過此研討會，您將瞭解：自動駕駛汽車和車用互聯網方框圖網域/區域控制器架構根據 IEEE 和開放車用聯盟 (Open Automotive Alliance) 的 10Mbps 至 10Gbps 汽車乙太網路測試要求汽車乙太網路的系統級測試其他有線標準，例如 PCIe、LPDDR4、MIPI C-PHY 汽車雷達和超寬頻帶量測要求	Darshan Mehta
5G mm 毫米波架構和相位陣列波束成形技術	我們的小組將討論 5G 趨勢和架構設計選擇，以使透過相位控制陣列式天線和 Beamformer 拓撲設計的改善，可以為 mmWave 分配新的頻段。示波器的創新用途將可作為最佳的無線和射頻分析解決方案，來測試 3GPP 標準測試的 MIMO、更寬的頻寬、EVM 和延遲要求。	Tumay Kanar, with Shahriar Shahramian, Alan Wolke, and Amr Haj-Omar
使用商用現貨技術 (COTS) 訊號產生器進行 RADAR 測試和模擬	多年來，隨著商用現貨技術 (COTS) 訊號產生器的功能不斷增強，其在各種應用中的效用也隨之提高。如今，訊號產生器能夠準確模擬「真實世界」的訊號，這使其成為工程師測試以下系統的重要工具：5G、相干光學、量子計算、RADAR 等。在本次會議中，Andrew 和 Jonathan 將討論 COTS 訊號產生器在測試 RADAR 系統中扮演的角色，以及如何將其用於克服不同的挑戰	Andrew Cobas, Jonathan Roberts
電氣與電腦工程教學實驗室的未來	小組討論由一群教育思想領袖組成，他們對 COVID 19 大流行之後的電子和電腦科學的願景進行了研究，同時還涵蓋大學和學生都面臨的挑戰和需求，以及產業所扮演的角色。	Wilson Lee + Panelists
Tek古董博物館漫步：激發未來的工程師	在工程領域中，Tek 擁有 75 年的悠久歷史，但每一天都歷久彌新，即使是公司成立之初所打造的第一台示波器，也可以透過古董 Tek 博物館的動手展品來激發新一代的工程師。參與美國 Beaverton 博物館的虛擬導覽之旅，並聽取博物館館長的講解，以瞭解 Tek 校友、粉絲和志工如何傳遞對工程技術的終生熱愛。	Neil Simon, Tektronix Global Communications Director Dave Brown, Vintage Tek Museum Director
適用於毫米波 (mmWave) 5G 基礎設施的波束成形器前端和上下轉換器 IC	我們的演講中將討論 5G 趨勢和架構設計選擇，以使透過相控陣天線和 Beamformer 拓撲設計的改善，可以為 mmWave 分配新的頻段。示波器的創新用途將可作為最佳的無線和射頻分析解決方案，來測試 3GPP 標準測試的 MIMO、更寬的頻寬、EVM 和延遲要求。	Amr Haj-Omar, Dr. Naveen Yanduru
Spectrum View：在 4/5/6 系列 MSO 示波器上分析跨時域、頻域和數位域訊號的新方法	針對嵌入式系統進行除錯通常需要尋找一些線索，而這些線索很難透過一次只查看一個域來發現。有時需要同時觀察時域和頻域的訊號可以提供重要的深入見解。混合域分析對於回答以下問題尤其有用：當我傳輸無線和射頻資料時，我的電源軌電壓發生了什麼變化？存取記憶體時，發射都來自哪裡？開機後，我的 PLL 需要多長時間才能穩定？	Brandon Gould
觸控、測試、創新：Keithley 觸控式螢幕 UI	快來深入瞭解 Keithley 廣受歡迎的觸控式螢幕儀器「觸控、測試、創新」(Touch, Test, Invent®) 介面。我們將展示使用者介面鮮為人知的功能，並介紹可以使用其功能來分析資料的不同方式。熟悉儀器的控制功能，讓您可以更快速、更聰明地工作！Keithley DMM、DAQ 和 SMU 等產品均採用「觸控、測試、創新」介面。	Brad Odhner
使用 Tektronix 示波器遠端工作	瞭解 Tektronix 示波器如何進行遠端分析，無論您是在家工作、與世界各地的同事合作，還是僅需從不同房間存取儀器。我們將介紹 TekScope、TekDrive 和 e*Scope 如何透過同步控制、離線分析和雲端儲存來解鎖示波器功能。	Jeffrey Miller
3 系列 MDO：完美體驗六合一的出色功能	今天的示波器功能非常豐富。在本展示中，我們將研究僅僅一台示波器如何提供六種不同的功能：1) 示波器；2) 頻譜分析儀；3) 通訊協定分析儀；4) 邏輯分析儀；5) AFG；6) DVM/計頻器。	Dylan Stinson
使用 MSO 進行波束成形分析的 MIMO 處理	MSO 透過擴展用於通道正交特性和效能分析的 MATLAB® 演算法，為 MIMO 系統的多通道測試與量測提供了一個平台。	Keith Tinsley
如何使用示波器和 4 測試點的雙埠探棒量測雙埠分流貫通 PDN 阻抗	客戶面臨跨表面安裝電容器，在低頻下量測電路板上亞兆歐阻抗的挑戰。瞭解如何在 MSO6B 系列示波器和 Picotest P2102A 雙連接埠開爾文探棒上進行 VNA 量測。	Tony Ambrose, Steve Sandler
示波器的基本用法 ─ 如何充分利用示波器	本場會議適合示波器的新使用者。會議中將著重於示波器最佳做法 (探棒補償、偏移/位置控制等)，以及如何避免在使用示波器時最常見發生的錯誤和誤解。	Alan Wolke
PAM4 收發器特性分析	本次會議將涵蓋有關使用 Tektronix 8 系列 (TSO820 和 TCR801) 的 PAM4 光學收發器 (100G、400G) 的標準、測試和特性的最新資訊。我們將展示在手動和自動環境中高速執行的 TDECQ 等。	Brooke, Smith, & Zivny
大容量光收發器驗證測試解決方案	為了提高生產速度，製造商需要能夠提供快速、準確的收發器評估和驗證的簡化儀器。	Evan Smith, Tektronix; Jackson Brooke, Tektronix; Dave Mccormick, Quantifi
用於高能物理的數位轉換器和擷取軟體	展示了數位轉換器中訊號完整性的優勢，以及能可靠地啟用單發模式和高能物理測試的現代軟體。	Brian Hensley, Tektronix Steve Watts, Sierra Peaks
在 RSA 和 SignalVu 中使用脈衝量測套件的使用指南	本會議將引導說明您在使用脈衝量測套件 (RSA 選配 20、SignalVu 選配 SVP) 來分析雷達訊號特性時的最佳做法。會議中將向您展示如何設定和最佳化設定，並避免常見的錯誤。還將討論一些有關如何進行量測的說明。	Alan Wolke
正確探測的技巧和竅門	儘管經常被忽視，但示波器探棒與待測裝置 (DUT) 的接地連接通常是導致量測誤差的重要因素，甚至是主要因素。在本場會議中，我們將介紹經典的 10 倍被動式探棒、其各種接地選項，以及在便利性和準確性上所要進行的取捨。其中所說明的內容也適用於主動式探棒。	Dan Knierim
示波器的輻射發射疑難排解	在這次智慧會議室會議期間，業界專家 Ken Wyatt 將在介紹以下重要的主題，並接受聽眾提問。為什麼產品會發出輻射？使用示波器除錯 EMI 輻射排放疑難排解 – Ken 的 3 個逐步流程 EMI 除錯範例現代示波器 ADC 和硬體觸發功能有助於除錯 EMI	Ken Wyatt
使用 TekScope 軟體增強入門級示波器的功能	儘管 Tektronix 示波器已配備了許多功能，但仍常需要對資料進行更詳細的分析，然後與其他人共享。TekScope 和我們的入門級示波器的強大組合讓您能更深入探查入門級示波器上所擷取的資料，而且只需花費更高效能儀器的一小部分成本。	Andy Tedd
使用 Tektronix IsoVu 隔離差動探棒的最佳做法	IsoVu 量測系統提供了所有高壓差動式探棒中最高的共模抑制效能。但是，若要達到此探棒的最佳效能，需要仔細規劃電路板上的測試點，正確放置探棒以確保消除應力，並瞭解 IsoVu 最適合的應用。在本會議中，我們將介紹如何正確使用 IsoVu 在氮化鎵 (GaN) 和碳化矽 (SiC) FET 上進行高端閘極量測。同時還將討論寬能隙測試之外的應用，在這些應用中，IsoVu 的設計允許使用者透過共模干擾查看。	Cameron Lowe
示波器自動化和 Python 入門	所有產業和應用的客戶都在使用自動化來擴展其示波器的功能。我們將介紹完整的資訊，讓您輕鬆開始使用 Python 對示波器進行程式設計。瞭解如何設定環境、如何執行第一個指令碼，以及使程式碼順利執行的技巧。	Jeffrey Miller
時脈還原：理論與實踐 101	本演講簡要回顧了時脈還原的目的以及最常用的 CDR 類型。我們會檢視一些不同類型的展示，然後介紹一些技巧來協助您快速除錯與時脈還原有關的常見問題。重點在於實際應用並迅速提高生產力。	Mark Guenther
Tx 和 Rx 等化器開啟 NRZ 和 PAM4 眼圖	本會議中將說明 TX EQ 如何運作，以對預期的通道損耗進行預補償；RX 中的 CTLE、FFE 和 DFE 如何打開已閉合的眼圖；針對 NRZ 和 PAM4 訊號，PCIE Gen6、DDR5、400Gb 乙太網路電學和光學中實作的等化器是什麼？	Kan Tan and Xiaolan Wang
如何透過Python架構的視覺化軟體及支援 Keithley Test Script Processor (TSP) 的智能儀器讓量產測試更有競爭力	本智慧會議室提供了有關如何使用以 TSP 為基礎的智能儀器來提高生產力的逐步說明。特別是，我們將使用 SourceMeter 對 SiC FET 或 IGBT 進行故障測試。最後，我們則會使用 Python 中的資料可視化功能完成一個靈活的故障測試工具。	Andrea Clary
Steve Sandler, Chris Loberg	TDR Functionality for Power Integrity	在此智慧會議室中, 您將學習如何使用 TDR 技術更好地了解電源完整性問題，並更快地消除系統設計中的紋波等問題
逆變器和馬達驅動器測試挑戰	本演講將概述典型的馬達驅動電路，並深入探討有關三相量測技術。我們將重點介紹使用以示波器為基礎的解決方案進行馬達相關量測的測試挑戰和理想的測試設定，並針對將採用寬能隙裝置的新興馬達驅動器，重點介紹進行電流隔離量測的影響。	Sushil Vohra
適用於 DDR5 記憶體新特性分析技術	隨著 5G 標準來臨，資料中心不僅需要以更快的速度來存取大量資料，同時還必須能降低功耗。DDR5 SDRAM 擁有強大的新功能，其頻寬和密度是 DDR4 的兩倍，並提高了通道效率。DDR5 亦帶來了記憶體世界中前所未有的獨特測試挑戰。我們將提供有關最新特性分析和除錯技術的更新資訊，讓您輕鬆執行最高 DDR5 速度等級的分析工作。	Joe Swelland
Tektronix USB4 和 TBT3/4 相容性解決方案概述和示範	USB4 和 TBT3/4 電氣測試非常相似，但是認證過程不同。本會議將介紹 USB4 和 TBT3/4 之間的區別，協助您選擇正確的測試解決方案，並更充分地理解常見的測試問題。最後則是 Tektronix USB4 和 TBT3/4 解決方案的現場展示。	Abhijeet Shinde
Tektronix 5G 解決方案與空中編程量測展示	5G 頻譜分析 (如誤差向量振幅 (EVM) 和鄰近通道功率比 (ACPR)) 支援 5G FR1 要求，且具有高解析度和多通道功能，可同時對射頻、類比和數位訊號進行 MIMO 分析。獨特的 DDC 架構可建立專用的射頻訊號路徑，可輕鬆地進行頻域和時域之間的分析和關聯，同時符合未來 5G 測試平台的未滿足需求。	Amr Haj-Omar 博士、Donald Dalebroux
迎向未來，深度省思	工程是一個關於產生解決方案和解決問題的故事。在這個論壇中，我們匯集了一群經驗豐富的 Tek 工程師，與《Evaluation Engineering》編輯 Alix Paultre 坐下來討論工程領域的發展和變化。小組討論的範圍將涵蓋未來的工作展望和過去的工程經驗，以及他們目前感興趣的領域。這個論壇是一個千載難逢的機會，不僅可讓您更深入地瞭解工程藝術，還會介紹一些獨特的觀點，有助於實現明天的解決方案。工程中面臨哪些最大的問題？我們要朝甚麼方向前進？我們從過去的經驗學到了什麼？我們的專家小組將帶您瞭解一些最深度的問題和急需的解決方案。	Alix Paultre, Shane Arnold, Xiaolan Wang, Mark Guenther, Ron Brown
居家辦公的人機工程學	工作場所在變化，我們的舒適度也在變化。無論您是居家工作或是回到辦公室工作，本會議內容都能為您提供符合人體工學的簡單提示，以提高您辦公桌 (或餐桌) 的舒適度，使您在工作週結束時感到更有生產力，並有效減輕您的疲勞感。	Lisa Schuiteboer Shuler
焦頭爛額？還是保持最佳狀態？- 您的選擇！	我們生活在預設的速度和壓力狀態下，但渴望能有更多的時間能保持冷靜和清醒的最佳狀態。探索如何快速識別狀態，並將您的狀態從「忙碌」轉變為「最佳」。	Cara Bradley
Micro-Practices-體驗並發揮出最佳表現	經常輪換工作內容將有助於您保持堅定、冷靜和清醒的狀態。現場快速學習策略，將您的煩惱轉變為專注力和順暢感。	Cara Bradley