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MIPI Interface - PCIe Automated Test

精確、可重複的 PCIe 量測

近二十年來,PCI Express® 科技一直是被廣泛採用的高速串列介面連接標準。最新 PCIe® 規格可滿足資料密集型的市場需求,例如人工智慧/機器學習及高效能運算。

我們的 PCIe 自動化測試解決方案,可藉由解決設定及校驗問題來大幅降低測試複雜性。這些解決方案結合低雜訊量測硬體,可達成快速、準確且可重複的量測。身為 PCI-SIG® 工作群組的現任投票成員,我們擁有發射器、接收器、參考時脈和鎖相迴路 (PLL) 驗證所需的專業知識。

PCI Express、PCIE 和 PCI-SIG 是 PCI-SIG 的註冊商標和/或服務標誌。

PCIe 全方位自動化測試解決方案

領先業界的 PCIe Base 6.0 發射器與接收器測試解決方案

PCIe® 6.0 是一種多功能、高速串列介面標準,用於串連現代運算系統中的各種元件。它利用 PAM4 訊號和前向錯誤更正 (FEC) 實現突破性的 64.0 GT/s 資料傳輸速率,為要求嚴苛的各類應用提供更快的處理速度和更流暢的效能。

Tektronix 的直覺式工具提供開箱即用的量測支援,包括訊號雜訊失真比 (SNDR)和不相關的抖動,以及最新規範下要求的接收器應力眼圖 TP3/TP2 校正和儀器雜訊補償。

與前幾代產品相同,PCIe 6.0 驗證與相容性測試,對於確保遵守 PCI-SIG 制定的標準至關重要。Tektronix 的 PCIe 6.0 發射器 (Tx) 測試解決方案,可協助工程師解決最新的設計與驗證問題。對於 PCIe 6.0 接收器 Rx 測試解決方案,Tektronix 和 Anritsu 公司合作,透過將 Tektronix 的 DPO70000SX 即時示波器與 Anritsu 的 MP1900A 誤碼率測試儀 (BERT) 搭配使用,提供卓越的 Rx 測試解決方案,兩者都由 Tektronix 開發及支援的測試自動化和分析工具控制。

PCIe Rx test setup including test fixture, Device Under Test, Anritsu MP1900A BERT and Tektronix DPO70000SX oscilloscope and compliance test automation software.

PCIe Gen1 到 Gen5 發射器器測試解決方案

我們的 PCIe 發射器測試解決方案,透過提供從 2.5 GT/s 到 32.0 GT/s (Gen1 到 Gen5) 的 PCIe 發射器驗證及合規性解決方案,來維持向後相容性。支援從早期矽電壓/時序特性到平台位準發射器及參考時脈量測的頻距。Tektronix 技術領導者透過整合所有工程變更通知 (ECN) 並支援 PCI-SIG 合規研討會作為經批准的解決方案,確保這些解決方案保持相關性。

檢視 PCIe Gen 1-5 產品規格表

檢視 PCIe Gen5 手冊

DPO70000SX ATI 效能示波器

MSO/DPO70000DX 混合訊號/數位螢光示波器

低壓差動式探棒

PCIe Gen1 to Gen5 Transmitter Test

PCIe 接收器與 PLL 測試解決方案

由於在高損耗通道上校驗壓力眼圖訊號需要極高的靈敏度,PCIe 接收器的驗證極為困難。Tektronix 的 PCIe 接收器測試解決方案讓您確信您的設計已在所需的誤碼率 (BER) 目標下進行了全面測試。我們的直覺式分步工具為 Anritsu MP1900A BERT 提供連結訓練程序,確保您的接收器獲得準確的測試。自動化測試支援壓力眼圖校驗、最新的發射器與接收器連結等化合規性測試( equalization compliance tests)、自訂 BER 執行,以及抖動容差特性分析。此架構也支援簡易發射器 PLL 頻寬與峰值量測。

檢視 PCIe 接收器測試網路研討會

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DPO70000SX ATI 效能示波器

MSO/DPO70000DX 混合訊號/數位螢光示波器

低壓差動式探棒

PCIe Receiver test automation software measuring jitter tolerance for PCIe Gen 6.0 BASE compliance test.

Compute Express Link (CXL)

資料中心架構必須更常回應資料移動和存取需求,同時將耗電量降至最低、提高效率,支援更大型及更多元的應用。奠基於 PCIe 強大的實體層,CXL 能滿足這些需求,讓處理器能夠以高效能的方式存取同樣的記憶體資源、彼此溝通,並在單一架構上執行。Tektronix 實體層解決方案支援最快速的 CXL 資料速率 (32 Gt/s) 以及各種外形尺寸,以符合這項新興技術的需求。

DPO70000SX ATI 效能示波器

MSO/DPO70000DX 混合訊號/數位螢光示波器

低壓差動式探棒

Compute Express Link (CXL) Application

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網路研討會

PCIe Gen6 PAM4 訊號網路研討會

請檢視此PCI Express Gen6驗證討論。查看使用真實實驗室資料,以 32GBaud PAM4 進行接收器測試的壓力眼圖校驗。
PCIe Gen5 Transmitter Test
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PCIe Gen5 發射器驗證技術簡介

請閱讀我們的 PCIe Gen 5.0 簡介,瞭解測試挑戰以及用於發射器測試的 Tektronix 解決方案的概述。
PCIe Multi-Lane Testing
白皮書

PCIe Gen5 自動化多通道測試

瞭解如何跨多重差動通道對待測連結進行 PCIe Gen5 發射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 量測。
PCI Express Gen 6.0
白皮書

達成 PCIe Gen 6.0 互通性

Synopsys 和 Tektronix 共同編寫的新白皮書深入介紹了 PCIe Gen 6 法遵、透過 PHY 驗證實現的互通性以及 PCIe 6.0 收發兩用儀的量測方法。

PCIe Test
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PCIe Gen6 專家小組討論:針對 64 GT/s 及以上進行設計

聆聽 Tektronix、Synopsys 和 Anritsu 的專家討論未來高速互連設計的關鍵考量因素。
Skew Measurement
白皮書

PCIe 通道對通道偏移白皮書

瞭解如何以最大資料速率 32 GT/s (Gen5) 精確測量 PCIe 發射器之間的通道對通道偏移。