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歡迎登陸 Tektronix 高準確度電源測試知識星球,和 Tektronix 一起學習高準確度電源測試技術知識
隨著晶片設計的高密度化和單位運算能力的不斷增加,高功耗、高電流、高速率、小尺寸的晶片設計對供電電壓的穩定性、低阻抗供電路徑的依賴和電源雜訊餘裕要求都提出了更高的要求。
電源完整性 (PI) 和訊號完整性 (SI) 會相互影響,若訊號品質不佳,電源即有極大的可能性不佳,而電源品質不佳,訊號品質當然也不會太好。
Tektronix 解決方案為您的電路提供一個可靠的供電環境。
場景I | 場景II | |
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場景 | 晶片或手機或模組 (高密度、高頻率) | 通用單板設計 |
需求 | 10mv以下的漣波測試 1-4G暫態雜訊 |
10mv以上的漣波測試 1G以下的暫態雜訊 |
應用 | 電源完整性測試 (漣波雜訊測試、直流壓降測試) | |
解決方案 | MSO6(4GHz)+TPR4000+DPM | MSO6(1G)+TPR1000+DPM |
高準確度電源完整性測試解決方案演講影片/教學課程
針對高速單板上進行漣波雜訊測試的多個痛點問題,課程中將為您一一分解:
- 電源完整性之 PDN 組成和電容的作用
- 電源完整性設計的目標和手段
- 電源漣波雜訊測試常見問題及 Tektronix 解決方案