ソース・メジャー・ユニット

アプリケーション・ノート

漏れ電流（リーク電流）測定方法｜高電圧半導体デバイス

8/20/2019

ケースレーは、ハイパワー半導体デバイスのテストでは、長い歴史と多くのノウハウを持っております。最近、2470型1100Vグラフィカル・ソースメータを発売し、SiC及びGaNデバイス・テストにおける困難な測定に対応します。このアプリケーションノートでは、2470型ソースメータ及びKickStartソフトウェアを使用した、高電圧半導体デバイス試験のためのアプリケーションをご紹介します。

技術資料

測定ソリューション別- 約40種の技術資料をまとめてチェック

9/30/2020

SMUは、デジタル・マルチメータ、電源、電子負荷、パルス・ジェネレータ、電流源の5種類の機能を1台に統合した計測器です。DC印加／測定を一台で同時に実現でき、DMMと電源を2台使用するよりもはるかに高効率な測定が実現可能です。ここではバッテリ充放電測定や部品デバイスの特性評価など、様々の測定事例をご紹介します。

ビデオ

低コストカーブトレーサで不良解析

3/23/2023

カーブトレーサについて大型、高価、修理不可などのお悩みはありませんか？ケースレーのI-Vトレーサではこれをすべて解決。従来同様に操作可能、電圧電流印加、パルス／ACモードも対応。２端子デバイスの不良解析に最適です

計測技術ラーニング・センター