半導体検査装置｜電気特性評価

材料、半導体プロセス／デバイスの電気特性評価に対応した完全統合型ソリューション

ハイパワー半導体デバイスの特性評価に対応した完全なソリューション

ウエハレベルの自動テストに対応した標準／カスタム構成システム

半導体デバイスのテストに特化した低電流スイッチング

ACSは、半導体デバイスの特性評価、パラメトリック・テスト、信頼性テスト、およびシンプルな機能テスト用に設計された柔軟かつインタラクティブなソフトウェア・テスト環境です。