これらのデバイスの設計やテストでは、入力信号を再現するメカニズムが必要です。また多くの場合、信号にノイズやその他の異常を付加することも、デバイスを実環境のストレスの多い条件下でテストするのに有効です。これを実現するための一般的な方法には、ソフトウェア・アプリケーションで作成する方法とオシロスコープを使用して実際の信号を取り込む方法があります。作成した波形あるいは取り込んだ波形は、テクトロニクスのAFG3000シリーズをはじめとする、AFG(任意波形/ファンクション・ゼネレータ)にロードされます。AFGはこの信号を繰り返し再現し、恒温槽やEMCテスト・ルームなどの制御された環境下で最終的な回路をテストすることができます。再現された信号は容易に変更できるため、被測定回路の信頼性を検証することができます。
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