Свяжитесь с нами
Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET
Позвоните нам
С 9:00 до 17:00 CET
Загрузить
Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:
Обратная связь
Программное обеспечение Keithley Automated Characterization Suite (ACS)
|
Загрузка бесплатных пробных версий программного обеспечения
|
 |
Использование гибкости системы и пользовательских программ для определения характеристик разных устройств
В ПО ACS встроен редактор сценариев (Script Editor), представляющий собой независимое приложение с графическим интерфейсом пользователя, предназначенное для создания кода Python и сценариев TSP® для управления приборами, анализа данных и автоматизации системы. Интуитивно понятные меню приложения позволяют разрабатывать структуру ГИП и управлять пользовательскими библиотеками и модулями.
Автоматизация сбора данных
Добавляемая в ACS опция автоматизации проверки устройств на уровне пластины зондовыми станциями позволяет легко подключать широко применяемые полуавтоматические или полностью автоматические зондовые станции к системе тестирования для быстрого сбора больших объемов данных. Опция включает в себя программу описания пластин, создания карт пластин в режиме реальном времени с возможностями сортировки, программу плана тестирования кассет, а также программу заключительного контроля кассет и пластин после тестирования. Встроенные в ACS инструменты и функции значительно ускоряют процессы автоматического определения характеристик устройств.
Обмен программами и результатами тестирования
В ПО ACS включён стандартный набор ключевых элементов, которые поддерживают самые разные конфигурации оборудования, обеспечивая экономию времени и повышение производительности тестирования. Системы работают поочерёдно с каждой схемой оборудования, поэтому, например, данные системы на базе ACS, полученные при определении характеристики компонента одного устройства, можно легко передать в другую систему, используемую для тестирования на уровне пластины.
Максимально эффективное использование оборудования Keithley
Встроенные в ACS программные средства упрощают разработку тестов и оптимизируют скорость работы каждого прибора Keithley, подключённого к системе. Система ACS в сочетании с приборами Keithley на базе TSP обеспечивает самую высокую в отрасли производительность, что позволяет снизить стоимость тестирования и исключить затраты времени на изучение новых подходов или языков программирования для получения данных, необходимых для выполнения поставленных задач.
Поддерживаемые приборы
| Тип прибора | Модель | Пакет ACS |
|---|---|---|
| Приборы серии SMU | Серия 2600B: 2601B, 2602B, 2604B, 2611B, 2612B, 2614B, 2634B ,2635B, 2636B Серия 2600A: 2601A, 2602A ,2611A, 2612A, 2635A, 2636A Серия 2400 графических приборов с сенсорным экраном: 2450, 2460, 2460-NFP, 2460-NFP-RACK, 2460-RACK, 2461, 2461-SYS, 2470 Серия 2400 стандартных приборов: 2401, 2410, 2420, 2430, 2440 Прибор высокой плотности 2606B: 2606B Серия 2650 для устройств высокой мощности: 2651A, 2657A |
ACS базовый ACS стандарт |
| Параметрические анализаторы | 4200A | ACS базовый ACS стандарт |
| Цифровые мультиметры | DMM7510, серия 2010 | ACS базовый ACS стандарт |
| Матричные коммутаторы | HVM1212A | ACS базовый ACS стандарт |
| Системы коммутации | 707A/B, 708A/B, 3700A | ACS базовый ACS стандарт |
| Генераторы импульсов | Серия 3400 | ACS базовый ACS стандарт |
| Пробники | TEL P8/P12, TEL T78S/80S, ACCRETECH (Tokyo Seimitsu) TSK9/UF200/UF3000/APM60/70/80/90, MPI SENTIO TS2000/TS2000-SE/TS2000-HP/TS3000, FormFactor (Cascade) Summit 12000, FormFactor (Cascade) S300, Suss MicroTec PA200/Cascade CM300, Electroglas EG2X/EG4X, Wentworth Pegasus 300S, Signatone CM500, Yang Sagi3, Micromanipulator P300A | ACS стандарт |
Прим.:
- Интерактивный испытательный модуль (ITM) поддерживает модели 24xx уровня TTI, приборы 26xx и варианты совместного использования этих приборов.
- Управление любым прибором с TSP можно осуществлять при помощи скрипта STM. Существующие библиотеки ACS STM поддерживают отдельные приборы в зависимости от определения библиотеки.
- Управление любым прибором можно осуществлять при помощи скрипта PTM. Существующие библиотеки ACS PTM поддерживают отдельные приборы в зависимости от определения библиотеки.
ACS Basic Edition Key Features
US $437
3 Month Subscription
US $1,410
12 Month Subscription
US $3,570
Perpetual
- Designed for packaged devices (MOSFETs, BJTs, IGBTs, diodes, resistors, etc.)
- Rich set of test libraries for fast and easy test setup and execution without programming
- Built-in data analysis tools for quick analysis of parametric data
- Simplified instrument configuration using the automated hardware management tool
Select license option to continue
ACS Standard Edition Key Features
US $8,660
12 Month Subscription
Perpetual
- Supports the following test modules: GUI, Lua Script, Python and C
- Supports a wide array of instruments and probers to accommodate a broad range of applications
- Intuitive GUI simplifies I-V tests, analysis, and results from benchtop to fully automated parametric testers to enhance user experience
- Develop and execute tests at the device, sub-site, site, wafer, and cassette level for increased test capability
Select license option to continue
ACS WLR Edition Key Features
US $13,900
12 Month Subscription
Perpetual
- System configurations from 2 to 44 channels
- Comprehensive JEDEC-compliant test suite
- Optimized for both emerging and mature technologies
- Supports both sequential and parallel testing
- Fully automatic single-site and multi-site capability
- Compatible with all popular wafer probe stations
- Real-time plotting and wafer mapping
Select license option to continue
Области применения: от разработки до производства
Интегрированные системы тестирования на основе ПО ACS — это комплексные решения для таких областей применения, как сортировка кристаллов по параметрам, определение характеристик мощных полупроводниковых элементов и проверка надёжности на уровне пластин. При работе с соответствующими полуавтоматическими и полностью автоматическими зондовыми станциями, конфигурации оборудования и программы тестирования этих систем могут быть легко оптимизированы для конкретных задач.
Increase Reliability Throughput
Reliability tests improve quality, reduce failure rates, ensure high yields, and increase confidence. ACS Software supports Shared Stress methodology for high volume reliability testing, accelerating test times.
Ultra-Low Resistance Measurements using Delta Mode
The 2182A/622X combination is well suited for many nanotechnology applications because it can measure resistance without dissipating much power in the device under test (DUT), which would otherwise invalidate results or even destroy the DUT. Perform Delta Mode tests with ACS Software to incorporate these sensitive measurements into a test system.
Keithley Ultra-Low Resistance Configurations Series 6200/2182A
Последовательная подача напряжений питания для определения ВАХ GaN транзисторов ТВПЭ
GaN транзисторы с высокой подвижностью электронов (ТВПЭ) работают в нормально открытом режиме, поэтому для тестирования ВАХ транзисторов требуется специальная последовательность подачи напряжений питания. Программное обеспечение ACS поддерживает последовательную подачу напряжений питания для определения характеристик тестируемого GaN ТВПЭ без повреждения элемента, с получением его собственной ВАХ.
Тестирование на разных этапах производства полупроводниковых приборов
Оба пакета программного обеспечения — ACS Basic и ACS Standard Editions — используются в техпроцессах изготовления полупроводниковых приборов при тестировании разных параметров для всесторонней характеризации полупроводниковых устройств. Интегрированные системы тестирования ACS Basic и ACS обеспечивают:
- Тестирование на уровне устройства, пластины и кассеты
- Гибкую конфигурацию, адаптируемое под требования пользователя программное обеспечение и приложения
- Интерактивное и автоматизированное функционирование системы
- Мощное сочетание ГИП и программируемых сценариев для разработки модулей тестирования
Этап разработки
Программное обеспечение ACS Basic Edition оптимизировано для параметрического тестирования компонентов и отдельных (корпусных) полупроводниковых приборов. При помощи этого ПО можно существенно повысить производительность труда инженерно-технических специалистов, занятых в исследованиях и разработках, за счет следующих основных функций:
- Возможность тестирования корпусных элементов (МОП-транзисторов, биполярных плоскостных транзисторов, БТИЗ, диодов, резисторов и т. п.)
- Большой набор библиотек тестов для быстрой и простой настройки и выполнения тестов без программирования
- Встроенные инструменты анализа данных для быстрого анализа параметрических данных
- Поддержка источников-измерителей (SMU) Keithley серии 2600B (кроме 2604B, 2614B и 2634B), а также серии 2400, 2651A и 2657A
Этап интеграции
Программное обеспечение ACS Standard Edition используется на этапе интеграции для полуавтоматического тестирования пластин, в том числе разработки надёжных процессов тестирования и оценки надёжности на уровне пластин (WLR). При помощи ПО можно тестировать каждый вывод компонента отдельным каналом источника-измерителя на уровне системы. Преимущества ПО ACS WLR:
- Полная автоматизация функций для тестирования отдельных пластин или всей кассеты
- Программное обеспечение для гибкой настройки тестов и параллельного тестирования
- Модуль тестирования надёжности (RTM) соответствует стандартным методикам JEDEC для тестирования
- Поддержка создания пользовательских модулей/процедур тестирования
Этап производства
Программное обеспечение ACS Standard Edition используется в адаптируемых под требования пользователя полностью интегрированных и автоматизированных стоечных испытательных системах для мониторинга управления процессами (PCM), приёмочных испытаний пластин (WAT) и сортировки матриц. Встроенные в ПО ACS Standard инструменты и функции значительно ускоряют процессы автоматического определения характеристик устройств:
- Автоматизация тестирования на уровне пластин и кассет
- Тестирования соответствия исходной карты карте устройства, а также тестирование участков и мини-участков
- Интерактивный режим управления зондовой станцией
- Создание единого файла данных Keithley или по каждой пластине