AFG31000 임의 함수 발생기

InstaView™를 확인하세요.

DUT에서 실제 파형 확인 가능

특허받은 InstaView™ 기술로 오실로스코프, 프로브 또는 추가 장비 없이도 AFG의 DUT(피시험 장치)에서 직접 실제 파형을 확인할 수 있으므로 테스트 시간과 비용을 줄일 수 있으며 테스트 결과에 일치하지 않는 임피던스가 나타날 위험을 없앨 수 있습니다.

InstaView 기술 알아보기

3단계로 간단하게 파형 시퀀스를 프로그래밍합니다. 지금 확인하세요.

어드밴스 모드의 고품질 신호

제품에서 바로 채널당 최대 16Mpts에 달하는 긴 정밀 파형을 연속으로 생성할 수 있습니다. 가변 샘플링 클럭 기술을 사용하면 파형 데이터가 전혀 손실되지 않습니다. 추후 업그레이드를 통해 테스트를 원하는 만큼 향상시킬 수 있으며, 기존 AWG 비용의 10분의 1만으로 복잡한 파형을 프로그래밍할 수 있습니다.

선택적으로 업그레이드하여 다음 기능을 사용할 수 있습니다.

• 채널당 128Mpts로 메모리 확장(옵션 MEM)
• 유연한 복합 타이밍에 따라 긴 파형을 작성하기 위한 최대 25가지 항목 및 컨트롤(브랜치, 반복, 대기, 점프, 이동, 외부 트리거, 수동 트리거, 타이밍된 트리거 및 SCPI 명령)

"이 AFG의 고급 기능으로 일반적인 설정/테스트 주기를 절반가량 단축할 수 있습니다."

- TZ 메디컬, 엔지니어링 관리자, 존 무어(John Moore)

스마트 사용자 인터페이스

시중에 나와 있는 제품 중 가장 큰 AFG 터치스크린으로 더 빠르게 학습하고 더 빠르게 작업할 수 있습니다. 9인치 화면이 스마트 장치처럼 작동하므로, 핀치, 줌 및 스크롤을 통해 간소화된 메뉴에서 설정 및 매개 변수를 쉽게 찾을 수 있고, 자주 사용하는 설정의 바로 가기를 찾을 수 있습니다.

숫자로 보는 AFG31000의 강점

온라인 업그레이드

소프트웨어 기반 아키텍처를 통해 웹 사이트에서 직접 AFG31000을 업그레이드할 수 있으며 필요에 맞게 개선된 새 옵션을 사용할 수 있습니다.

현재 사용 가능

• 대역폭 업그레이드
• 메모리 크기 업그레이드
• 파형 시퀀스 업그레이드

아날로그 회로 특성화

This is an analog world. 모든 물리적 현상이 아날로그 신호로 캡처되고 제공됩니다. 따라서 증폭기, 필터 및 컨버터와 같은 아날로그 회로의 성능을 특성화해야 합니다.

• InstaView™ 기술로 임피던스 매칭이 되지 않은 DUT에서 발생한 파형의 왜곡 현상을 해결
• 25MHz~250MHz의 주파수 범위
• 높은 신호 충실도가 보장되므로 외부 필터 또는 감쇠기가 필요 없음
• 주파수 응답성 및 잘 교정되어 있는 사인파 플랫 상태를 통해 주파수 응답 테스트를 간편하게 진행 가능

제품 검증 및 성능 특성화

제품을 시장에 출시하기 전에 테스트 엔지니어가 집중적으로 테스트 사례를 진행하여 스펙을 만족할 수 있도록 해야 합니다. 그렇지만 이러한 프로세스는 시간이 많이 소요되는 반복적인 작업입니다.

• 자동 테스트를 위한 전체 프로그래밍 기능 및 수동 테스트를 위한 직관적인 사용자 인터페이스
• 파형 시퀀스를 통해 여러테스트 사례들을 싱글 시퀀스로 자동화할 수 있습니다.
• 유연한 분기화(Branching) 방법으로 높은 효율성 획득
• 최대 128Mpts의 임의 메모리 및 내장 비휘발성 플래시 메모리로 모든 파형 및 테스트 사례 저장

펄스 테스트

더블 펄스 테스트는 스위칭 매개 변수를 측정하고 MOSFET 및 IGBT 전력 장치의 동적 동작을 평가하는 방법입니다. 더블 펄스 테스트는 켜기 매개 변수, 끄기 매개 변수 및 역복구 매개 변수를 측정합니다.

이 테스트는 다음을 위해 수행됩니다.

• MOSFET 및 IGBT와 같은 전력 장치 데이터 시트의 사양 보장
• 전력 장치 또는 전력 모듈의 실제 값 또는 편차 확인
• 다양한 부하 조건에서 이러한 스위칭 매개 변수를 측정하고 여러 장치에서 성능을 검증

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