Contactez-nous
Chat en direct avec un représentant Tek. Service disponible de 9 h à 17 h, CET jours ouvrables.
Appelez-nous au
Disponible de 9 h à 17 h CET jours ouvrables.
Télécharger
Télécharger des manuels, des fiches techniques, des logiciels, etc. :
Feedback
L'assurance qualité commence et se termine par un test
Réaliser des mesures reproductibles et automatisées pour tester toute l'électronique embarquée et critique.
Gigue, puissance, mémoire, analyse des tendances, RF. Le nombre de mesures à effectuer pour développer, vérifier et valider une conception embarquée est presque infini. Un ensemble d'équipements de test efficace doit être capable de fournir un aperçu de vos conceptions d'une manière que vous n'avez peut-être pas prévue. En outre, ces mesures nécessitent certains des outils d'analyse les plus avancés pour assurer la qualité par rapport aux spécifications détaillées des systèmes et sous-systèmes.
Les tests et les mesures que les ingénieurs doivent effectuer deviennent chaque jour plus délicats. Nous fabriquons des équipements et des logiciels pour simplifier la vie des ingénieurs, afin que vous puissiez passer plus de temps à la conception et moins de temps au débogage. Qu'il s'agisse d'ajouter des options d'analyse avancées à nos produits pour que vous n'ayez pas à recourir à des ordinateurs externes, ou d'inventer la possibilité de visualiser simultanément le spectre RF et le domaine temporel d'un seul signal. Nous apportons des solutions à vos problèmes.
Solutions avioniques
Communications de données
Les systèmes embarqués peuvent contenir de nombreux types de dispositifs différents, notamment des microprocesseurs, des microcontrôleurs, des DSP, de la RAM, des EPROM, des FPGA, des A/D, des D/A et des E/S. Jusqu'à présent, ces divers dispositifs communiquaient entre eux et avec le monde extérieur au moyen de larges bus parallèles. Mais aujourd'hui, de plus en plus de blocs de construction utilisés dans la conception de systèmes embarqués remplacent ces larges bus parallèles par des bus série.
Haute vitesse série
Les normes numériques à haut débit évoluent rapidement pour répondre aux besoins de performances de notre monde axé sur les données. Les normes série de nouvelle génération et les exigences en matière de communication de données posent de nouveaux défis en matière de test, repoussant les limites des outils de conformité et de débogage actuels. De la conception à la simulation, en passant par l'analyse, le débogage et les tests de conformité, Tektronix propose des solutions de mesure avancées et automatisées pour optimiser les performances, accélérer les cycles de validation et accélérer la mise sur le marché.
Systèmes de test automatisés
Qu'il s'agisse de la densité des voies, de l'espace en rack, du coût de possession ou de la vitesse de test, les systèmes ATE ont leurs propres exigences. La réduction du temps nécessaire pour effectuer un test constitue souvent l'aspect le plus important dans la création de nouveaux systèmes. Pour résoudre ces problèmes, Tektronix propose une technologie unique grâce à la TSP de Keithley, l'analyse spectrale en temps réel et des instruments compacts à profil bas.
Des analyseurs de spectre leaders du marché aux systèmes Keithley prêts à l'emploi, Tektronix peut répondre à toute la gamme des tests automatisés du secteur de l'aérospatiale et de la défense.
Alimentation électrique
Les convertisseurs de puissance actuels sont efficaces et nécessitent moins de puissance en entrée pour une puissance en sortie équivalente, mais ils sont plus exigeants en termes de mesure de l’alimentation. La complexité croissante des topologies et l'omniprésence de parasites imposent de comparer précisément les simulations et les mesures. Les EMI sont plus difficiles à contrôler lorsque les fréquences de commutation augmentent. Les systèmes ont besoin d'une large gamme d'alimentations rapides qui affichent un faible niveau de bruit.
Les réseaux de distribution d'alimentation doivent fournir de nombreux rails d'alimentation DC faible bruit pour des charges sensibles telles que les microprocesseurs, les DSP, les FPGA et les ASIC. La recherche d'une vitesse et d'une densité supérieures va de pair avec des vitesses de transition, des fréquences, un nombre de rails, des courants supérieurs et des niveaux de tension plus faibles. Les équipes de conception doivent donc chercher à garantir l'intégrité du signal et de l'alimentation.
