Current Language
×
French (France)

Sélectionnez une langue :

Activer le menu
Current Language
×
French (France)

Sélectionnez une langue :

Contactez-nous

Chat en direct avec un représentant Tek. Service disponible de 9 h à 17 h, CET jours ouvrables.

Téléphone

Appelez-nous au

Disponible de 9 h à 17 h CET jours ouvrables.

Télécharger

Télécharger des manuels, des fiches techniques, des logiciels, etc. :

TYPE DE TÉLÉCHARGEMENT
MODÈLE OU MOT CLÉ

Feedback

Automating High and Low Frequency C-V Measurements and Interface Trap Density (DIT) Calculations of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer


This application note discusses how to use the 4200A-SCS Parameter Analyzer to measure and to automatically switch between high and low frequency C-V measurements on MOS capacitors. Basic information on MOS capacitors and common parameter extractions is also discussed.