Kontaktaufnahme

Live-Chat mit Tektronix-Vertretern. Verfügbar von 9 bis 17 Uhr CET Geschäftstage.

Anrufen

Kontaktieren Sie uns telefonisch unter

Verfügbar von 9 bis 17 Uhr CET Geschäftstage.

Download

Laden Sie Handbücher, Datenblätter, Software und vieles mehr herunter:

DOWNLOADTYP
MODELL ODER SCHLÜSSELWORT

Feedback

DDR5 Memory

Herausforderungen bei DDR-Prüfungen im Zeitalter der 5G-Technologie

Die Einführung von 5G treibt das Wachstum einer Vielzahl aufregender Technologien voran – von Augmented Reality (AR) und künstlicher Intelligenz (KI) bis hin zu Cloud Computing und IoT. All diese Dinge sind darauf angewiesen, dass mehr Daten sowohl gespeichert als auch schneller abgerufen werden, weshalb der Speicher der fünften Generation (DDR5) wichtig ist. DDR5 verbessert Bandbreite, Dichte und Kanaleffizienz. Höhere Datenübertragungsraten und schnellere Signalgeschwindigkeiten führen jedoch zu komplexen Designs, die die Grenzen der Signalintegrität überschreiten und höhere Leistungsmessungen für DDR-Konformitätstests, DDR-Debugging und -Validierung erfordern.

DDR-Speicher-Testlösungen

DDR5 DRAM-Sender und -Empfänger

Die Tektronix Clarius DDR5 DRAM Compliance-Software bietet eine umfassende Lösung für Sender und Empfänger, um DDR5 DRAM-Geräte gemäß JEDEC-Spezifikation zu validieren und zu charakterisieren.

Die neueste disaggregierte Architektur optimiert die Nutzung von Oszilloskopen und ermöglicht den Betrieb von Sender und Empfänger auf einer einheitlichen Softwareplattform.

DDR5 DRAM Tx-Datenblatt

DDR5 DRAM Rx-Datenblatt

Two DPO70000SX oscilloscopes with DDR5 software for compliance testing.

DDR5-Systemsender-Lösung

Die TekExpress DDR5 System Transmitter Lösung entspricht den JEDEC-Speicherstandards, sodass Sie mehr Zeit für die Validierung des Speicherdesigns und weniger Zeit für die Erfassung der Daten aufwenden können. Die Option für die DDR5-Testautomatisierungssoftware ist für die Mixed-Signal-Oszilloskope MSO/DPO70000 und die ATI-Hochleistungsoszilloskope DPO70000SX verfügbar.

Wichtige Leistungsmerkmale:

  • Analyse der Entscheidungsrückkopplung bei erhöhtem DDR-Traffic und Schreibdaten-Augendiagrammmessungen
  • Ausbettung mit SDLA
  • Unterstützt eine Datenrate von bis zu 15.000 M T/s im benutzerdefinierten Modus
  • Eigenständige Anwendung zur DDR-Entscheidungsrückkopplung

Weitere Informationen:

Datenblatt für TekExpress DDR5 Transmitter

Broschüre für DDR5

DDR Memory Testing & DFE Analysis

LPDDR5

Die Lösung TekExpress LPDDR5 Transmitter entspricht den aktuellen JEDEC-Speicherstands, sodass Sie LPDDR5-DRAM-Designs sicher bei maximalen Datenraten validieren können. Sie wird von den Mixed-Signal-Oszilloskopen MSO/DPO70000 und den ATI-Hochleistungsoszilloskopen DPO70000SX unterstützt.

Wichtige Leistungsmerkmale:

  • Automatisierte Lese- und Schreib-Burst-Trennung
  • Ausbettungstechniken mit SDLA
  • Schnellere Zeiten für eine schnellere Markteinführung
  • Unterstützung mehrerer Burst-Erkennungsmethoden: lesen und schreiben, nur schreiben, nur lesen und visuelle Suche
  • Sechseckige Maske und Randanalyse für Schreibdaten-, CA-, CS-Augendiagrammmessungen

Weitere Informationen:

Datenblatt für LPDDR5 Transmitter

Broschüre für LPDDR5

DDR Memory

LPDDR4

Schnelle Datenübertragungsraten, Flexibilität und bewährte Technologie sorgen dafür, dass LPDDR4-DRAMs in Wearables, medizinischen Geräten, im Automobilbereich und in IoT-Anwendungen weit verbreitet sind.

Die automatisierte Senderlösung Clarius LPDDR4 von Tektronix erfüllt die neueste JEDEC-Spezifikation zur Validierung und Charakterisierung von LPDDR4-Designs bei den höchsten Datenraten. Führen Sie Konformitätsprüfungen mit einem Klick durch.

Die neueste disaggregierte Architektur optimiert die Nutzung des Oszilloskops und beschleunigt die Testzeiten.

Clarius LPDDR4 Tx-Datenblatt (PC-basiert)

Debuggen Sie Designs mit der Tektronix DDR-LP4-Lösung, die eine automatisierte Trennung von Lese- und Schreibbursts bietet sowie die Flexibilität, Tests bei höchsten Datenraten für gezielte Analysen auszuwählen.

DDR- LP4 Tx-Datenblatt (Oszilloskop-basiert)

Automated LPDDR4 software.

DDR4, DDR3 und LPDDR3

Schnelle Datenraten, Flexibilität und bewährte Technologie führen zu einer weiten Verbreitung vorangegangener Generationen von DDR4-, DDR3- und LPDDR3-DRAMs in Wearables, medizinischen und IoT-Geräten.

Die DDR4- und DDR3/LPDDR3-Testautomatisierungssoftware ist für die Verwendung mit den Mixed-Signal-Oszilloskopen MSO/DPO70000 und den ATI-Hochleistungsoszilloskopen DPO70000SX erhältlich. Die DDR3/LPDDR3-Automatisierungssoftware ist auch für die Verwendung mit den Tektronix Mixed-Signal-Oszilloskopen MSO der Serie 6 B erhältlich.

Wichtige Leistungsmerkmale:

  • Einfache Identifizierung von Lese- und Schreibvorgängen
  • Automatisches Einrichten und Testen gemäß JEDEC-Spezifikationen
  • Automatisierte Berichterstellung
  • Unterstützung für eine Vielzahl von Interposern und Hochleistungsstromzangen

Weitere Informationen:

Tests mit DDR/LPDDR der Gen 3 und 4 an den Oszilloskopen MSO/DPO70000 und DPO70000SX

Tests mit DDR/LPDDR der Gen 3 an den Oszilloskopen MSO der Serie 6

DDR Memory Trigger and DDR3 Memory

Häufig gestellte Fragen (FAQs)

Was ist ein DDR-Speichertest?

Der DDR-Speichertest (Double Data Rate) bezieht sich auf den Prozess der Bewertung der Leistung, Funktionalität und Zuverlässigkeit von DDR-Speichermodulen, wie DDR4 oder DDR5, die in Computersystemen eingesetzt werden. DDR-Speichertests werden durchgeführt, um sicherzustellen, dass diese Speichermodule wie vorgesehen arbeiten und die festgelegten Qualitäts- und Kompatibilitätsstandards erfüllen. Im Folgenden finden Sie eine ausführlichere Erklärung des DDR-Speichertests:

  1. Leistungsüberprüfung: DDR-Speichermodule werden getestet, um ihre Leistungsmerkmale wie Datenübertragungsraten, Latenz und Bandbreite zu verifizieren. Diese Tests gewährleisten, dass der Speicher die festgelegten Anforderungen an Geschwindigkeit und Effizienz erfüllt.

  2. Timing und Signalintegrität: DDR-Speichertests umfassen Timing-Tests, um sicherzustellen, dass Daten zum richtigen Zeitpunkt aus dem Speicher gelesen und in den Speicher geschrieben werden. Signalintegritätstests überprüfen auf Signalverzerrungen oder Rauschen, die die Datenintegrität während der Kommunikation beeinträchtigen könnten.

  3. Datenintegrität: Der DDR-Speichertest überprüft auch die Datenintegrität und die Fähigkeit zur Fehlerkorrektur. Es wird überprüft, ob die im Speicher abgelegten und abgerufenen Daten korrekt und zuverlässig sind.

  4. Stresstests: Stresstests setzen die Speichermodule extremen Bedingungen aus, wie hohen Temperaturen oder Spannungsschwankungen, um ihre Belastbarkeit und Zuverlässigkeit unter widrigen Umständen zu bewerten.

  5. Kompatibilitätstests: DDR-Speichermodule müssen nahtlos mit verschiedenen Motherboards und Chipsätzen funktionieren. Kompatibilitätstests stellen sicher, dass der Speicher mit einer breiten Palette von Hardwarekonfigurationen kompatibel ist.

  6. Analyse des Stromverbrauchs: Die Prüfung von DDR-Speicher umfasst Bewertungen des Stromverbrauchs, um sicherzustellen, dass die Speichermodule den Energieeffizienzstandards entsprechen und keinen übermäßigen Strom verbrauchen.

  7. Einhaltung von Standards: Die DDR-Speicherprüfung erfolgt gemäß den von Organisationen wie JEDEC (Joint Electron Device Engineering Council) festgelegten Industriestandards und Spezifikationen. Die Einhaltung dieser Standards ist entscheidend für die Produktzertifizierung und die Akzeptanz auf dem Markt.

  8. Qualitätssicherung: Das Testen von DDR-Speicher ist ein wesentlicher Bestandteil des Qualitätskontrollprozesses in der Fertigung. Es hilft, Probleme frühzeitig im Produktionszyklus zu identifizieren und zu beheben, wodurch die Wahrscheinlichkeit verringert wird, dass fehlerhafte Speichermodule die Verbraucher erreichen.

  9. Produktvalidierung: Hersteller und Entwickler verwenden DDR-Speichertests, um die Leistung von Speichermodulen in realen Anwendungen zu validieren und sicherzustellen, dass sie den Anforderungen moderner Rechenaufgaben gerecht werden.

Warum ist der DDR-Test wichtig?

DDR-Tests sind entscheidend, um sicherzustellen, dass Speichermodule ordnungsgemäß funktionieren, da speicherbezogene Probleme zu Systeminstabilität, Abstürzen oder Datenkorruption führen können. Es wird auch bestätigt, dass die Speichermodule ihren Spezifikationen entsprechen, den Industriestandards genügen und unter verschiedenen Umweltbedingungen korrekt funktionieren.

Wann sollten DDR-Tests durchgeführt werden?

DDR-Tests müssen während der Produktentwicklungsphase durchgeführt werden, um Probleme frühzeitig im Designprozess zu identifizieren und zu beheben. Sie werden auch als Teil der Qualitätskontrolle in der Fertigung durchgeführt.

Was sind DDR4- und DDR5-Tests?

DDR4- und DDR5-Tests sind spezifische Tests, die für DDR4- bzw. DDR5-Speichermodule entwickelt wurden. Diese Tests stellen sicher, dass diese Speichermodule die jeweiligen DDR4- oder DDR5-Spezifikationen erfüllen.

Welche DDR-Testtools und -geräte sind für Tests erforderlich?

Um DDR-Speicher (Double Data Rate) umfassend zu testen, wird eine Reihe wesentlicher Werkzeuge und Geräte benötigt, wie zum Beispiel:

  1. Speichertester für Funktions- und Leistungsbewertungen

  2. Oszilloskope, Interposer/Vorrichtungen, Strom- und Spannungstastköpfe zur Messung elektrischer Zeit- und Spannungsparameter zur Analyse der Signalintegrität.

  3. Bitfehlerraten-Tester (BERT) zur Überprüfung der Empfängerspezifikationen.

  4. Lastplatinen für realistische Simulationen

  5. Umweltkammern für Temperatur- und Feuchtigkeitstests

Zusätzlich werden Taktgeneratoren auch zur Synchronisation eingesetzt. Hochwertige Kabel, Anschlüsse, Sicherheitsausrüstung und Computerarbeitsplätze vervollständigen die wesentliche Ausrüstung für präzise und zuverlässige DDR-Speichertests.

Resources

Webinar

DDR5 Memory Characterization

While they promise to provide datacenters with large amounts of data at faster speeds and lower power consumption, DDR5 …
White Paper

DDR5 Measurement Challenges

The world is currently experiencing an explosive growth in the amount of data being generated. This is a trend …
Webinar

Addressing Test Challenges of LPDDR5X Memory

Explore testing LPDDR5X, the latest low power memory specification from JEDEC. See what's new and what's the same in the …
Webinar

Solving Key LPDDR5 DRAM Test Challenges

Watch the webinar, How to Solve Key LPDDR5 DRAM Test Challenges, for test tips and techniques to meet the design …
Blog

How Does the New Generation Memory – DDR5 – Change Things?

From augmented reality to artificial intelligence, cloud computing to IoT, 5G is fueling growth in new technologies – …