Свяжитесь с нами
Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET
Звонок
Позвоните нам
С 9:00 до 17:00 CET
Загрузить
Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:
Обратная связь
Поддержка приборов и материалы для загрузки
Добро пожаловать на страницу технической поддержки продуктов Tektronix
Специалисты компании готовы часами говорить с клиентами на технические темы, но мы ценим ваше время. Поэтому мы максимально упростили загрузку руководств, технических описаний и программного обеспечения для выпускаемых приборов и многих продуктов, которые сняты с производства. Просто укажите, каким продуктом вы пользуетесь, и мы предоставим все имеющиеся материалы.
Модель, номер которой вы выбрали, в настоящее время находится в продаже. В наличии есть следующая справочная информация.
-
Техническая документация Тип документа Дата выпуска High Voltage 1 kV Capacitance-Voltage Measurements with the Keithley S530-HV Parametric Test System
Introduction to High Voltage Capacitance-Voltage (C-V) Testing Due to the complexities typically associated with high voltage (1 kV) capacitance wafer-level testing, such as instrumentation setup, cabling, probing, automation, and safety …Примечание по применению Measuring MOSFET Gate Charge Using the S530 Parametric Test System
Introduction Power MOSFETs are often used as high speed switching devices. The switching speed of these devices is affected by internal capacitances that are typically specified in data sheets in terms of Ciss and Coss, which are derived from …Примечание по применению Testing High Power Semiconductor Devices from Inception to Market
Introduction This primer examines the life cycle of a power semiconductor device and the tremendous variety of test and characterization activities and measurement challenges faced by the engineers involved in each stage throughout the cycle …Начальное руководство 9139B Probe Card Adapter Board Files
This zip file contains files for fabrication of a 9139B-PCA (Probe Card Adapter) probe card. Files include a fabrication print and Gerber files.Технические характеристики Making Microsecond Pulse and AC Measurements with the S530 Parametric Test System by Integrating 4200A-SCS Parameter Analyzer Applications
This application note describes how to generate microsecond pulsed I-V sweeps and tests, as well as make AC impedance measurements, with the S530 Parametric Test System by calling built-in user libraries from the 4200A-SCS Parameter Analyzer in the …Примечание по применению Protecting Parametric Test Systems and the Test Environment from Damaging Transient Overvoltages and Overcurrents
Measuring breakdown parameters is increasingly required to predict a device’s safe region of operation. Sometimes, those breakdown conditions in reliability testing and breakdown test occur as a result of unexpected behaviors, such as a second …Примечание по применению Programming and Erasing Flash Memory Devices Using the Keithley S530 Pulse Generator Option
This note provides an overview of how to use the S530 Parametric Test System’s pulse source option to program and erase NAND flash memory cells. For further information on these measurements and on the S530 Parametric Test System pulse option …Примечание по применению Performing van der Pauw Sheet Resistance Measurements Using the Keithley S530 Parametric Tester
Accurate low voltage measurements are essential to many semiconductor tests. Often, test structures such as contact chains, vias, and metal structures have resistances on the order of tens to hundreds of milliohms. Measuring such small resistances …Примечание по применению