Свяжитесь с нами
Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET
Звонок
Позвоните нам
С 9:00 до 17:00 CET
Загрузить
Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:
Обратная связь
Поддержка приборов и материалы для загрузки
Добро пожаловать на страницу технической поддержки продуктов Tektronix
Специалисты компании готовы часами говорить с клиентами на технические темы, но мы ценим ваше время. Поэтому мы максимально упростили загрузку руководств, технических описаний и программного обеспечения для выпускаемых приборов и многих продуктов, которые сняты с производства. Просто укажите, каким продуктом вы пользуетесь, и мы предоставим все имеющиеся материалы.
Модель, номер которой вы выбрали, в настоящее время находится в продаже. В наличии есть следующая справочная информация.
- Техническое описание
- Руководства
- Техническая документация
- Программное обеспечение
- Часто задаваемые вопросы
-
Техническое описание Номер публикации: Дата выпуска 2520 Pulsed Laser Diode Test System
1KW-61621-0 Model 2502 Dual Channel Picoammeter
2010 Catalog pages for Model 2502 Dual Channel Picoammeter.Model 2510 TEC SourceMeter and Model 2510-AT Autotuning TEC SourceMeter
2010 Catalog pages for Model 2510 TEC SourceMeter and Model 2510-AT Autotuning TEC SourceMeter.Model 2520INT Integrating Sphere for Pulsed Measurements
2010 Catalog pages for Models 2520INT-1-Ge and 2520/KIT1 Integrating Sphere for Pulsed Measurements.
-
Руководства Тип руководства Номер по каталогу: Дата выпуска Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System User Manual
Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System User ManualОсновной потребитель 2520-900-01D Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System Quick Reference Guide Rev. B
2520 Pulsed Laser Diode Test System Quick Reference Quick Start User ManualОсновной потребитель 2520-903-01B Models 2510 and 2510-AT Instrument Manual Addendum
This is an addendum to the Model 2510 Instruction Manual. This information concerns the 2510-AT, which includes PID temperature control loop autotuning. This addendum also contains information on a change in the maximum allowed PID derivative loop …User (Предварительные установки > Пользователь) PA-779C Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System Packing List PA-787 Rev. A
User ManualUser (Предварительные установки > Пользователь) PA-787A Model 2520 Continuous Pulse Mode Release Notes Rev. A
User ManualПримечания к выпуску 2510-910-01A Models 2510 and 2510-AT TEC SourceMeter User's Manual
User ManualОсновной потребитель 2510-900-01E Models 2510 and 2510-AT Connector Label Packing List PA-791 Rev. A
User (Предварительные установки > Пользователь) PA-791A Keithley Models 2510 and 2510-AT TEC SourceMeter
Service ManualОбслуживание 2510-902-01E
-
Техническая документация Тип документа Дата выпуска Source Measure Unit (SMU) Instruments Selector Guide
MAKE MULTIPLE MEASUREMENTS ACCURATELY USING A SINGLE INSTRUMENT A source measure unit (SMU) instrument is a five-in-one tool. It combines the useful features of a digital multimeter (DMM), power supply, current source, electronic load and pulse …Руководство по выбору прибора Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System Specifications
Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System SpecificationsТехнические характеристики Measuring Laser Diode Optical Power with an Integrating Sphere
Introduction Characterizing radiant sources like laser diodes accurately depends on the ability to measure their optical power output accurately. A number of vital device characteristics can be extrapolated from these optical power measurements …Техническая документация Source Meters Selection Guide
Руководство по выбору прибора Pulsed LIV Testing of Low Power Optical Devices with a Model 2520
Application Note #2428, Pulsed LIV Testing of Low Power Optical Devices with an Amplified Integrating Sphere and the Model 2520.Примечание по применению Optimizing TEC PID Coefficients Automatically with the Model 2510-AT
Introduction Many thermoelectric cooler (TEC) controllers use PI or PID (proportional, integral, derivative) loops for temperature control.While these loops can provide precise temperature control, they require proper values for each P, I …Примечание по применению #2214 High-Throughput DC Production Test of Telecommunications Laser Diode Modules
The constantly growing need for greater communications bandwidth is accelerating the demand for telecom laser diode (LD) modules. As the volume of production and the complexity of the LD modules increases, greater emphasis must be placed on cost …Примечание по применению
-
Программное обеспечение Тип документа Номер по каталогу: Дата выпуска 2520 Firmware B11 Release Package
Firmware version B11 for the Model 2520 Pulsed Laser Diode Test System including upgrade instructions and release notes.Микропрограммное обеспечение 2520-800B11 2510/2510AT VXIPnp/VISA-based Driver for Visual Basic (VB), VC/VC++, LabView (LV) (v5.1,6.x)&LabWindowsCVI(v5.5) Rev A01
DESCRIPTION VXI-PNP style multi-platform Instrument Driver for the 2510 and 2510AT. May be used with VB, VC/C++, LabView 5.1 or 6i, or LabWindows CVI 5.5 or later. Includes VISA and I/O configuration utility for Instrument communicationsДрайвер 2510-850A01 LabVIEW (LV) Driver for the Models 2510 and 2510-AT
Драйвер 2510-LV-6
-
Часто задаваемые вопросы Идентификатор часто задаваемых вопросов Where in the pulse is the measurement made?
The 2520 measurement algorithm was designed to prevent problems with the pulse shape causing problems in the reported measurement. The algorithm described below is used for the laser diode V and I measurements, as well as the photodiode current …776666