This video provides the viewer a demonstration using a dual-channel Model 2602B SMU to perform a DC current gain (hFE) test on a bipolar junction transistor (BJT) using the instrument front panel.
Длительность 7:23
Свяжитесь с нами
Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET
Позвоните нам
С 9:00 до 17:00 CET
Загрузить
Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:
Обратная связь
This video provides the viewer a demonstration using a dual-channel Model 2602B SMU to perform a DC current gain (hFE) test on a bipolar junction transistor (BJT) using the instrument front panel.