Advanced Membrane Substrate and Interconnects Will Allow Simultaneous RF and DC Measurements During Wafer Probing

Свяжитесь с нами

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET

Звонок

Позвоните нам

С 9:00 до 17:00 CET

Свяжитесь с нами

Свяжитесь с нами, чтобы сообщить свои отзывы, комментарии или задать вопросы

Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

Обратная связь

Хотите предоставить отзыв? Мы будем рады услышать ваше мнение.

Ваши отзывы, как положительные, так и отрицательные, помогают нам постоянно совершенствовать веб-сайт Tek.com. Сообщайте нам, когда сталкиваетесь с проблемами или если считаете нашу работу важной и полезной.

Сообщите свое мнение