This technical note presents single-ended insertion loss ( SE IL) and return loss ( SE RL) data generated from two different methods: 1) vector network analyzer (VNA), and 2) TDA Systems IConnect®. The purpose of this note is to validate the use of the IConnect® software in generating these parameters as an alternative to the more widely accepted VNA generated data.
Свяжитесь с нами
Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET
Звонок
Позвоните нам
С 9:00 до 17:00 CET
Загрузить
Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:
Обратная связь