This application note discusses the purpose of reliability testing on wide bandgap semiconductor devices such as silicon carbide (SiC) and gallium nitride (GaN) and the test equipment needed for successful testing. Specifics are given on using Keithley’s KickStart Software to set up the equipment to stress and monitor the devices during the reliability testing.
Свяжитесь с нами
Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET
Звонок
Позвоните нам
С 9:00 до 17:00 CET
Загрузить
Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:
Обратная связь